Système de test de performance MX700KGD-600

pour IGBTsur siteautomatique

Présentation du produit
La série MX700KGD est un système automatisé de test et de tri dynamique/statique pour dies nus, principalement destiné aux puces SiC MOS et IGBT. Le système se compose du châssis de test, des équipements d'automatisation et d'un ensemble de cartes de sondes, et mesure le courant et la tension nominaux pour évaluer les performances électriques et l'intégrité des dies.

Fonctionnement
Le mécanisme de levage de la station de test soulève le porte-die jusqu'au contact des sondes de la carte de sonde. La chambre de pression de la carte de sonde est étanche et assure la calibration automatique de la hauteur du die pour un contact stable.

Fiche technique
Paramètres techniques test dynamique
Paramètres techniques test statique

Caractéristiques

• Couverture complète des tests avec fonctions configurables selon les besoins clients, incluant inspection visuelle et tests dynamique/statique à haute ou ambiante température;
• Capacité haute tension et fort courant pour réaliser les tests aux spécifications nominales des dies nus;
• Faibles paramètres parasites : inductance parasite système inférieure à 20 nH;
• Haut débit : UPH de test pouvant atteindre 600 pièces et plus;
• Protection par gaz pour éviter les arcs et l'oxydation lors des tests.

Spécifications / Détails techniques

• Objets applicables : tri dynamique/statique pour dies de puissance tels que SiC MOS et IGBT;
• Composition du système : châssis de test, équipements d'automatisation (porte-die, mécanisme de levage), et ensemble carte de sondes;
• Capacité de test : mesure du courant nominal et de la tension nominale et réalisation du tri conforme/non conforme;
• Levage et contact : le levage de la station entraîne le porte-die jusqu'au contact des sondes; la chambre de pression de la carte de sonde assure un contact scellé et stable;
• Calibration automatique : fonction d'auto-calibration de la hauteur du die;
• Caractéristiques électriques : prise en charge des tests haute tension et fort courant pour satisfaire les spécifications nominales des dies nus;
• Paramètres parasites : inductance parasite système < 20 nH;
• Débit : UPH de test ≥600 pièces/heure;
• Protection : blindage gazeux pour prévenir les arcs et l'oxydation;
• Possibilités de configuration : fonctions de test et configuration personnalisables selon le client, prise en charge de l'inspection visuelle et des tests dynamique/statique à différentes températures.