Système de test sur site MX700D SiC
de précision

Système de test sur site - MX700D SiC - Hefei Kewell Power System Co., Ltd. - de précision
Système de test sur site - MX700D SiC - Hefei Kewell Power System Co., Ltd. - de précision
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur

Caractéristiques

Forme
sur site
Autres caractéristiques
de précision

Description

Présentation du produit
Le système d'essai dynamique SiC MX700D se compose d'une alimentation CC programmable haute précision, d'une unité de montage (fixture), d'une unité de mesure et de contrôle, d'une unité de commande des drivers, d'une unité de protection et d'instruments de test auxiliaires. Il utilise un logiciel de test système développé en interne pour fournir une plateforme de test stable et précise des paramètres dynamiques des composants SiC.

Caractéristiques principales
  • Fonctions de test complètes : prise en charge des tests monopulse, bipulse, de court-circuit et de charge défaillante;
  • Protection contre les surcourants : ouverture rapide de la boucle de courant en cas de défaillance du composant;
  • Très faible inductance série : conception de boucle compacte minimisant l'inductance série pour répondre aux besoins des tests SiC;
  • Grande compatibilité : prise en charge de divers boîtiers et circuits grâce à l'adaptation de différents fixtures;
  • Unités d'entraînement indépendantes multiples : garantissent la cohérence entre les canaux lors de tests multi-unités;
  • IHM conviviale : interface intuitive pour une utilisation simple.


Spécifications / Détails techniques
  • Modèle : MX700D (système d'essai dynamique SiC)
  • Modules : alimentation CC programmable, unité de fixture, unité de mesure et de contrôle, unité de commande des drivers, unité de protection et instruments de test auxiliaires
  • Types de test pris en charge : monopulse, bipulse, test de court-circuit, test de charge défaillante
  • Protection : protection contre les surcourants interrompant rapidement la boucle de courant en cas de défaillance
  • Caractéristique de boucle : conception à faible inductance série adaptée aux tests dynamiques SiC
  • Compatibilité : prise en charge de plusieurs boîtiers et circuits via des fixtures interchangeables/assorties
  • Commande : plusieurs canaux d'entraînement indépendants assurant la cohérence entre canaux
  • Logiciel : logiciel de test système développé en interne offrant une plateforme de test stable et précise

Catalogues

Aucun catalogue n’est disponible pour ce produit.

Voir tous les catalogues de Hefei Kewell Power System Co., Ltd.
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.