Fraiseuse CNC à 3 axes JIB-4000PLUS

universellepour l'optiquecompacte

Le JIB-4000PLUS est un système de fraisage et d'imagerie par faisceau d'ions focalisés (système FIB à faisceau unique) doté d'une colonne optique ionique haute performance. Le faisceau d'ions Ga (gallium) accéléré est focalisé sur un échantillon pour permettre l'observation par imagerie SIM de la surface de l'échantillon, le fraisage et le dépôt de matériaux tels que le carbone ou le tungstène. Le système permet également la préparation d'un échantillon en couche mince pour l'imagerie TEM et d'un échantillon en coupe transversale pour l'observation de l'intérieur de l'échantillon. En outre, le JIB-4000PLUS peut être équipé d'une fonction d'observation 3D et d'une fonction de préparation automatique d'échantillons TEM ; le système répond ainsi à une variété de besoins en matière de préparation d'échantillons. Caractéristiques Colonne FIB haute puissance Le JIB-4000PLUS intègre une colonne FIB haute puissance avec un courant de faisceau ionique maximal de 60 nA. En outre, le système peut augmenter le courant du faisceau jusqu'à 90 nA (en option) afin de réduire le temps de préparation des échantillons et d'élargir la zone de préparation des échantillons. Le JIB-4000PLUS permet de préparer en peu de temps une section transversale d'un diamètre supérieur à 100 μm. FIB convivial Le JIB-4000PLUS offre une excellente opérabilité d'une colonne FIB haute puissance. Le concept de conception du système est la convivialité, l'aspect extérieur ainsi que l'interface graphique étant conçus pour une utilisation simple du système, même pour les utilisateurs novices. La compacité du système, le plus petit de sa catégorie dans l'industrie, permet d'obtenir un faible encombrement et d'élargir la gamme de choix pour le site d'installation.