Microsonde électronique (EPMA) JXA-8530FPlus

JEOL a commercialisé le premier FE-EPMA au monde, le JXA-8500F, en 2003. Ce FE-EPMA très réputé est utilisé depuis longtemps dans divers domaines, tels que les métaux, les matériaux et la géologie, tant dans l'industrie que dans les universités. Le JXA-8530FPlus est un FE-EPMA de troisième génération qui offre des capacités d'analyse et d'imagerie améliorées. Le canon à électrons à émission de champ In-Lens Schottky, associé à un nouveau logiciel, offre un débit plus élevé tout en maintenant une grande stabilité, ce qui permet de réaliser une plus large gamme d'applications EPMA avec une meilleure résolution. In-Lens Schottky Plus FEG version EPMA La version EPMA In-Lens Schottky Plus FEG, avec une densité de courant angulaire optimisée, permet une analyse avec un courant de sonde important de 2μA ou plus. La résolution de l'image d'électrons secondaires a été améliorée, même dans des conditions d'analyse, grâce à l'ajustement automatique de l'angle de convergence correct. Logiciel avancé Une multitude de systèmes d'applications avancées basés sur Microsoft Windows® sont disponibles, notamment : Le programme d'analyse des éléments traces pour une analyse plus simple et optimisée des éléments traces, y compris l'ajout de données collectées à partir de 5 spectromètres, Phase Map Maker pour la création automatique de cartes de phase basées sur les composantes principales, Programme d'analyse des surfaces non planes pour l'analyse WDS automatisée des échantillons présentant des irrégularités de surface. Ceci est possible grâce à la grande course Z de la platine (7,5 mm). Avis:Windows est une marque déposée de Microsoft Corporation aux États-Unis et dans d'autres pays.