Le JEM-F200 est un nouveau microscope électronique à transmission par émission de champ, qui se caractérise par une résolution spatiale et des performances analytiques plus élevées, un nouveau système d'exploitation facile à utiliser pour des opérations polyvalentes, une apparence intelligente et divers systèmes écologiques et d'économie d'énergie.
Conception intelligente
Le JEM-F200 a une apparence nouvelle et raffinée.
Il intègre une nouvelle interface utilisateur intuitive spécialement conçue pour la microscopie électronique analytique.
Il présente également une stabilité mécanique et électrique exceptionnelle, qui reflète l'expertise technique de JEOL accumulée au fil des ans.
Système de condenseur à quatre lentilles
La microscopie électronique d'aujourd'hui doit prendre en charge une large gamme de techniques d'imagerie, de la TEM en champ clair/champ sombre à la STEM qui utilise une variété de détecteurs.
Le JEM-F200, avec son nouveau système optique de formation de sonde à 4 niveaux, c'est-à-dire le système de condenseur à quadruple lentille, contrôle l'intensité et l'angle de convergence du faisceau d'électrons de manière indépendante, afin de répondre aux différentes exigences de la recherche.
Système de balayage avancé
Le JEM-F200 intègre un nouveau système de balayage, le système de balayage avancé, capable de balayer le faisceau d'électrons dans les systèmes de formation de sonde d'image. Cela permet de réaliser des STEM-EELS à large champ.
Entraînement de la platine pico
Le JEM-F200 utilise un entraînement de pico-scène, qui est capable d'entraîner la scène par pas de 200 pico-mètres sans entraînement piézoélectrique, et de déplacer la zone de visualisation avec une large gamme dynamique, d'une grille d'échantillon entière à des images d'ordre atomique.
SPECPORTER (dispositif de chargement/déchargement du porte-échantillon automatique)
Le chargement/déchargement d'un porte-échantillon est considéré comme une erreur humaine, en particulier pour les débutants.
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