Entrez en contact avec vos nouveaux clients en un seul endroit, toute l'année
Devenir exposant
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Les systèmes d' inspection des défauts par plasma à large bande 3935 et 3920 EP prennent en charge la découverte des défauts au niveau des plaquettes, l'apprentissage du rendement et la surveillance en ligne pour la logique ...
KLA Corporation
... clusters modulaires et inspection intégrée avec métrologie 3 D pour contrôle face avant/arrière/bord et collecte parallèle de données.
KLA Corporation
... de l'industrie (militaire, aérospatiale, médicale). Les inspecteurs C30x tirent parti d'une source d'éclairage à large bande accordable, d'une optique avancée et d'un capteur à faible ...
KLA Corporation
... dispositifs logiques avancés 1Xnm et de dispositifs de mémoire DRAM et NAND 3 D avancés. Le Puma 9980, qui fait partie d'un portefeuille d'outils avancés d'inspection et d'examen ...
KLA Corporation
... CIRCL5 de dernière génération comprennent : l' inspection des défauts de la face avant de la plaquette ; l' inspection, le profil, la métrologie et l'examen des défauts du bord de la plaquette ; l' inspection ...
KLA Corporation
... , de substrats et d'équipements à des nœuds de conception inférieurs à 1Xnm. Système d'inspection de la surface des plaquettes sans motif avec sensibilité DUV et haut débit pour la fabrication de circuits intégrés, de ...
KLA Corporation
... arêtes de biseau, analyse de la composition par rayons X à dispersion d' énergie (EDX) Le système d'examen et de classification des défauts des plaquettes de silicium par faisceau d'électrons ...
KLA Corporation
... un retour d'information précis sur l'erreur de superposition sur le produit pour des rampes technologiques rapides et une production stable de mémoires et de dispositifs logiques de pointe. L'accordabilité et l'optimisation de la longueur ...
KLA Corporation
... classification d'une large gamme de défauts d'intérêt (DOI). Le système d'inspection des défauts de surface Candela 8420 permet de couvrir la totalité de la surface en quelques minutes et de produire ...
KLA Corporation
machine d'inspection optiqueCandela® 8520
... la classification d'une large gamme de défauts d'intérêt (DOI). Ce système utilise une technologie optique exclusive pour mesurer simultanément l'intensité de la diffusion à deux angles d'incidence. Le ...
KLA Corporation
... vendus par TemaFlux représentent le summum de l'efficacité dans le domaine des essais non destructifs MPI. Avec une large gamme d'applications et une flexibilité inégalée, ces bancs magnétiques sont conçus pour une efficacité maximale ...
... directement sur le sol, sans nécessiter de fondations ou d'excavations, et sont facilement déplaçables à l'aide d'un chariot élévateur. Ergonomie et accessibilité : tables tournantes pour l' inspection ...
... de lentilles bloquées en production Évaluation à la volée de l'objectif Mesures Rx et de forme libre Mesure de dioptries et de cosmétiques Soutient la nouvelle philosophie cognitive de la machine Modulo DONNÉES TECHNIQUES matériau ...
Entrez en contact avec vos nouveaux clients en un seul endroit, toute l'année
Devenir exposant