Machine d'essai de couplage CT1000-SiPh

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Présentation
Le CT1000-SiPh est un équipement de test de puces optiques en silicium conçu pour l'industrialisation en grande série. Le système associe une section de test dédiée et une section d'alimentation/déchargement afin d'assurer un couplage et des mesures rapides et précis entre des fibre arrays (FA) et des puces optiques en silicium. Il intègre un système de vision haute résolution, un mécanisme d'accouplement haute précision et un contrôle dynamique en boucle fermée de la force pour garantir la répétabilité et le rendement.

Caractéristiques clés

• Système de vision haute résolution (résolution visuelle 50 nm)
• Mécanisme d'accouplement haute précision pour l'alignement FA→puce
• Contrôle dynamique en boucle fermée de la force pour un couplage rapide et reproductible
• Conception hautement compatible supportant plusieurs types de puces et interfaces
• Système d'alimentation/déchargement en panier automatisé adapté aux cadences de production

Avantages

• Système d'amortissement par coussin d'air indépendant sur la section de test pour isoler les vibrations externes et celles de l'alimentation/déchargement
• Manipulation automatisée en panier adaptée à la production en série
• Rétroaction de pression terminale pour un contrôle et un suivi précis du procédé
• Prise en charge de procédés tels que l'expansion par flux d'air chaud

Domaines d'application

• Photonique
• Dispositifs de puissance
• Dispositifs RF micro-ondes
• Véhicules nouvelle énergie (groupes motopropulseurs et modules de détection)

Caractéristiques / spécifications techniques

• Capacité du chariot : 25 anneaux wafer 8 pouces
• Résolution visuelle : 50 nm
• Poids de l'équipement : env. 1300 kg
• Source de pression positive : pression ≥ 0,5 MPa ; diamètre de raccord : 8 mm
• Source de pression négative : degré de vide ≤ -80 KPa ; diamètre de raccord : 8 mm (pompe à vide en option)