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Machine d'inspection à rayons X XT V 130C
pour l'industrie électroniquepour circuit imprimépour semi-conducteur

machine d'inspection à rayons X
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Caractéristiques

Technologie
à rayons X
Secteur
pour l'industrie électronique
Applications
pour circuit imprimé, pour semi-conducteur
Autres caractéristiques
de mesure, haute résolution

Description

Le XT V 130C est un système d’inspection des composants électroniques et des semi-conducteurs, très flexible et très rentable. Le système comprend une source 130kV/10W fabriquée par Nikon Metrology, un tube ouvert apprécié mondialement, avec un générateur intégré, et une chaîne d’imagerie à haute résolution. L’utilisateur final peut, grâce aux mises à jour apportées en usine et sur le terrain, configurer son système en fonction de ses propres besoins, avec un plateau d’échantillon rotatif, un écran plat numérique (en option), un logiciel d’inspection automatisé et la possibilité d’ajouter la technologie de Tomographie Numérique d’avant-garde. Avantages: Source microfocus brevetée de 30-130 kV avec reconnaissance des entités de 2μm Le manipulateur peut s’incliner à 72° pour faciliter l’inspection des entités internes Grande zone de mesure de 520x520 mm Navigation intuitive par joystick pour obtenir une imagerie rayons X en temps réel Double affichage des mesures et de l’analyse en temps réel Faible coût total de possession grâce à la technologie de tube ouvert La sécurité est un facteur de base dès la conception Conçu pour la TN et X.Tract (laminographie)

Catalogues

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.