machine d'inspection à rayons X / pour circuit imprimé / pour l'électronique / pour semi-conducteur
XT V 130C

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Caractéristiques

  • Technologie:

    à rayons X

  • Applications:

    pour circuit imprimé, pour l'électronique, pour semi-conducteur

  • Autres caractéristiques:

    de mesure, haute résolution

Description

Le XT V 130C est un système d’inspection des composants électroniques et des semi-conducteurs, très flexible et très rentable. Le système comprend une source 130kV/10W fabriquée par Nikon Metrology, un tube ouvert apprécié mondialement, avec un générateur intégré, et une chaîne d’imagerie à haute résolution.

L’utilisateur final peut, grâce aux mises à jour apportées en usine et sur le terrain, configurer son système en fonction de ses propres besoins, avec un plateau d’échantillon rotatif, un écran plat numérique (en option), un logiciel d’inspection automatisé et la possibilité d’ajouter la technologie de Tomographie Numérique d’avant-garde.

Avantages:
Source microfocus brevetée de 30-130 kV avec reconnaissance des entités de 2μm
Le manipulateur peut s’incliner à 72° pour faciliter l’inspection des entités internes
Grande zone de mesure de 520x520 mm
Navigation intuitive par joystick pour obtenir une imagerie rayons X en temps réel
Double affichage des mesures et de l’analyse en temps réel
Faible coût total de possession grâce à la technologie de tube ouvert
La sécurité est un facteur de base dès la conception
Conçu pour la TN et X.Tract (laminographie)