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Système d'inspection à rayons X VOXLS 30 C series
3Dpour tomographie numériqueCT

Système d'inspection à rayons X - VOXLS 30 C series - Nikon Metrology - 3D / pour tomographie numérique / CT
Système d'inspection à rayons X - VOXLS 30 C series - Nikon Metrology - 3D / pour tomographie numérique / CT
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Caractéristiques

Technologie
à rayons X, 3D, pour tomographie numérique, CT
Mode de fonctionnement
automatisé, robotisé
Type
de contrôle qualité, de mesure, pour détection de défauts, BGA
Applications
pour l'industrie automobile, pour l'industrie de l'électronique, pour l'aérospatiale, pour l'industrie métallurgique, pour le métal
Autres caractéristiques
haute résolution, contrôlé par ordinateur, sans contact

Description

Présentation Les systèmes d'inspection rayons X et CT de la série VOXLS 30 Nikon offrent une stabilité mécanique de grade métrologique dans un encombrement adapté à la production. Disponibles en 225 kV, 320 kV et 450 kV, ils couvrent l'inspection de matériaux de faible à haute densité et conviennent aux laboratoires et aux lignes automatisées.

Principaux avantages
  • Prêt pour l'automatisation : autoloaders/robotique, portes de transfert rapide et interface Nikon Automation OPC UA pour intégration atelier et inspections reproductibles sans intervention opérateur.
  • Options de source multiples : configurations 225 kV, 320 kV et 450 kV (cibles microfoyer rotatives ou à réflexion selon modèle) pour adapter la pénétration à la taille et à la densité des pièces.
  • Mécanique de qualité métrologique : manipulateur sur base en granit, tours en acier rigide, moteurs de précision et encodeurs linéaires pour stabilité mécanique et thermique et résultats mesurables répétés.
  • DFI motorisé : réglage submillimétrique pour optimiser le flux de photons, le grossissement et la durée des scans.
  • Visibilité et sécurité opérateur : porte extérieure vitrée 1,3 m avec interblocage manipulateur et caméras internes pour positionner les échantillons en toute confiance avec les portes de protection fermées.


Enveloppe de numérisation et améliorations de résolution
  • Modes d'acquisition avancés (X.Tend Helical CT, Panel Shift, Pixel Split CT, Offset.CT) pour scanner des pièces hautes, larges ou irrégulières et augmenter la résolution effective si nécessaire.
  • Panel Shift et Offset.CT permettent de numériser des objets plus larges que le détecteur ou d'obtenir une résolution supérieure sur des pièces larges.
  • X.Tend Helical CT autorise le scan d'objets hauts en une seule acquisition, réduisant les artéfacts de faisceau conique et d'assemblage.


Fonctions clés / points forts
  • Trois modèles : VOXLS 30 C 225 / 30 C 320 / 30 C 450 avec énergies source 225/320/450 kV.
  • Option Rotating.Target 2.0 225 kV pour une densité de puissance accrue et des scans plus rapides avec SNR amélioré ; refroidissement avancé pour fonctionnement continu à haute puissance.
  • DFI motorisé pour développement de techniques et optimisation du flux et du grossissement.
  • Manipulateur en granit et encodeurs de précision pour répétabilité et exactitude métrologiques.
  • Interfaces d'automatisation et portes de transfert rapide pour intégration en production à haut débit.


Applications industrielles
  • Automobile : pièces de bloc moteur, composants électroniques, éléments de direction.
  • Batteries : inspection de cellules et de packs, analyses de défaillance.
  • Aérospatial & défense : analyses de tendance et contrôles conformes aux normes métier.
  • Métaux & fabrication additive : porosité, détection de défauts et contrôle dimensionnel.
  • Dispositifs médicaux : inspection de composants réglementés et à haute exigence de précision.
  • Électronique : inspection BGA, fissures sur fils de liaison, analyse multicouche de PCB.
  • Recherche & enseignement : matériaux, fossiles, carottes et imagerie sciences de la vie.


Caractéristiques techniques
  • Série : VOXLS 30 Series (Nikon)
  • Options sources : 225 kV, 320 kV, 450 kV
  • VOXLS 30 C 225 : Rotating.Target 2.0 225 kV ou cible réflexion microfoyer 225 kV ; détecteur à écran plat ; volume max. : Ø 620 mm × H 1025 mm ; masse échantillon maxi. (charge centrale) : 50 kg ; masse système : ~6 950 kg.
  • VOXLS 30 C 320 : cible réflexion microfoyer 320 kV ; fonction Penta Source disponible ; détecteur à écran plat ; volume max. : Ø 610 mm × H 1050 mm ; masse échantillon maxi. : 100 kg ; masse système : ~10 350 kg.
  • VOXLS 30 C 450 : 450 kV microfoyer rotatif ou réflexion ; détecteur à écran plat ; Nikon CLDA disponible ; volume max. : Ø 610 mm × H 1050 mm ; masse échantillon maxi. : 100 kg ; masse système : ~10 350 kg.
  • Plateforme mécanique : manipulateur sur base en granit, tours acier rigides, moteurs de précision et encodeurs linéaires.
  • Modes de scan : Offset.CT, Panel Shift, Pixel Split CT, X.Tend Helical CT.
  • Interface d'automatisation : Nikon Automation OPC UA Interface.
  • Sécurité / aides opérateur : porte extérieure vitrée 1,3 m avec interblocage, caméras internes, portes de transfert rapide.
  • Options : Rotating.Target 2.0, CLDA (450 kV), Penta Source (320 kV) et options détecteur/traitement d'image.

VIDÉO

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.