PrésentationÉvalue la distribution 2D des contraintes (rétardation) sur des échantillons à faible différence de phase tels que plaquettes semi‑conductrices, verre coloré et produits en résine acrylique colorée. Possibilité d'analyse jusqu'à env. 50×50 mm en environ 1 minute.
Nom du modèleFully Automatic Strain Eye LSM-9001NIR
Méthode d'inspectionMéthode de l'analyseur rotatif NIR
Principales caractéristiques- Mesure entièrement automatique : placer l'échantillon et lancer la mesure ; les résultats sont calculés à partir des images capturées par la caméra intégrée sans jugement subjectif, réduisant la charge opérateur et la variabilité des mesures.
- Permet de mesurer les contraintes, les contraintes résiduelles et les fissures sur plaquettes semi‑conductrices et produits colorés ou transparents difficiles à analyser avec un polariscope conventionnel.
- Outils logiciels complets : cartes de distribution 2D avec graphiques en coupe, histogrammes pour zones choisies, visualisation 3D, export CSV des résultats et stockage d'images pour analyse traçable.
- Source lumineuse LED à haute luminance pour longue durée de vie et faible consommation, réduisant les coûts de maintenance et d'exploitation.
Spécifications- Méthode d'inspection : Méthode de l'analyseur rotatif NIR
- Plage de mesure (env.) : 0–150 nm (rétardation)
- Taille de la zone de mesure (env.) : 50×50 mm
- Temps de mesure : env. 1 minute pour 50×50 mm
- Espace de placement (hauteur) : Max 160 mm
- Dimensions : W300 × D353 × H540 mm
- Poids : 22 kg
- Source lumineuse : LED haute luminance
- Alimentation : AC100–240V 50/60Hz ; entrée DC 24V 1.6A
- Composants : unité principale, PC, câbles ; Accessoire : couvercle de l'unité principale
- OS : Windows 10 Pro (64bit) Japonais/Anglais