Socket de test pour électroniques à quartz GU10 Seriesde rodagepour hautes fréquencesmanuel
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Caractéristiques
- Applications
- pour électroniques à quartz
- Spécifications
- de rodage
- Autres caractéristiques
- pour hautes fréquences, manuel
Description
Prise de test et de déverminage pour oscillateurs à quartz, MEMS, etc.
Clam-shell, type haute fréquence
Taille du cadre 10x16mm / 0.39x0.63"
Conçue pour le réglage manuel du dispositif.
Convient aux tests d'évaluation des caractéristiques.
Utilise des broches de sonde ultra-courtes avec une structure flottante,
convient à l'utilisation de hautes fréquences.
- Température -40 à +150°C (typ.)
- Haute fiabilité
- Coût compétitif
- Personnalisable pour s'adapter à votre appareil
Types de dispositifs ciblés :
Unité de cristal de quartz, oscillateurs à quartz, dispositifs MEMS,
Filtres SAW, résonateurs à diapason, etc.
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Catalogues
GU10 Series
3 Pages
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TestSockets for Characterization Test
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.