Sockets de test de rodage

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socket de test de rodage
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M-Series H-Pin®

... Les socles de la série M sont depuis longtemps la référence en matière de fiabilité et de performances prêtes à l'emploi. Les composants de haute qualité ont été affinés et améliorés tout au long de leur durée de vie pour des performances ...

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Q-Series H-Pin®

... l'aide d'une simulation de conception, les canaux d'air sont optimisés pour maintenir une température précise tout au long du test. Caractéristiques et avantages - Conception éprouvée dans l'industrie, outillage, moulage ...

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R-Series H-Pin®

... La gamme de produits de la série R est une prise de fiabilité à toit ouvert utilisée pour les tests de durée de vie accélérés. Avec des versions de la conception ouverte à montage par compression disponibles en remplacement d'autres produits ...

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QN-Series

... Smiths Interconnect a joué un rôle de premier plan dans la conception et le développement de solutions de prises pour les nouveaux boîtiers QFN tels que MLF, BCC et LPCC. Ces prises offrent une conception modulaire dans un petit format ...

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C-Series H-Pin®

... Le socle H-Pin® de la série C est un socle de gravure modulaire avec un couvercle de type clamshell. L'empreinte réduite permet une gamme de boîtiers la meilleure de sa catégorie, allant d'un corps de 0,5 mm à 12 mm, et une densité optimale ...

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D Series H-Pin®

... vitesse. Caractéristiques et avantages - Flexibilité de conception, outillage et moules internes permettant d'obtenir le coût de test le plus bas. - Catalogue étendu de composants et d'options configurables - Réduction ...

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ES Series H-Pin®

... d'obtenir le coût de test le plus bas. Notre technologie brevetée H-Pin offre une polyvalence dans l'application de la prise qui peut être utilisée pour les tests fonctionnels ATE et SLT, en plus de couvrir toute la gamme ...

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ES Micro Series H-Pin®

... embases de déverminage, avec un couvercle à clapet à double verrouillage qui fournit une pression coplanaire sur l'objet sous test lorsque le couvercle est actionné. L'inclusion de la technologie brevetée de contact H-Pin ...

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ESJ Series H-Pin®

... ESJ offre une polyvalence et la possibilité d'utiliser la même prise pour de multiples besoins d'application et fonctions de test. Caractéristiques et avantages - La conception configurable, l'outillage, le moulage et ...

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K Series H-Pin®

... L'embase de la série K est conçue pour appliquer une pression plane et régulière sur l'objet sous essai à l'aide d'un levier secondaire une fois que le couvercle a été fermé. Cela permet de s'assurer que le plateau ne glisse pas sur le ...

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GU12-TO252-K-S74X68

... Douille de test pour boîtier TO Pour TO-252/D-PAK Size12x24.9mm/0.47x0.98" Coquille - Test de déverminage - Contact Kelvin (Option) - Coût compétitif - Température de fonctionnement : [Dispositif acceptable] NTD5862N(ON ...

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JC CHERRY INC.
socket de test pour transistor outline
socket de test pour transistor outline
GU16-TO263-K-S1045X103

... Douille de test pour boîtier TO Pour TO-263/D2-PAK Size16x27.9mm/0.63x1.10" Coquille - Test de déverminage - Contact Kelvin (Option) - Coût compétitif - Température de fonctionnement : [Dispositif acceptable] IRF5305STRLPBF(Infineon) VS-10TTS08S-M3 ...

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JC CHERRY INC.
socket de test pour transistor outline
socket de test pour transistor outline
GD18-TO263-K-S1045X103

... Douille de test pour boîtier TO Pour TO-263/D2-PAK Taille 18x32.9mm / 0.71x1.30" Coquille - Test de déverminage - Contact Kelvin (Option) - Courant nominal : 10A - Température de fonctionnement : [Dispositif ...

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JC CHERRY INC.
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GD18-TO263-7-x-109

... Douille de test pour boîtier TO Pour TO-263-7/D2-PAK Taille 18x32.9mm / 0.71x1.30" Coquille - Test de déverminage - Contact Kelvin (Option) - Courant nominal : 12A - Température de fonctionnement : [Dispositif ...

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JC CHERRY INC.
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GD18-TO252-x-755

... Douille de test pour boîtier TO Pour TO-252/D-PAK Taille 18x32.9mm / 0.71x1.30" Coquille - Test de déverminage - Contact Kelvin (Option) - Courant nominal : 10A - Température de fonctionnement : [Dispositif ...

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socket de test pour transistor outline
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GD17-TOLL-x-xx

... Pour la prise de test de l'emballage TOLL(TO-Leadless) Type de coquille Elle peut être utilisée pour tester les dispositifs montés en surface, TOLL (sans plomb), peu encombrants et de grande puissance. Vous ...

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JC CHERRY INC.
socket de test manuel
socket de test manuel
M-L245-BK-T30-P

... Douilles de test pour transistors de puissance, pas personnalisé Pas Haute température Faible dégagement gazeux Douille résistante à la chaleur à haute température pour un pas personnalisé. Si vous souhaitez évaluer ...

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GU10 Series

... Série GU10Frame Prise de test et de déverminage pour petits appareils Taille 10x16mm / 0.39x0.63" Coquille Type haute fréquence - Haute fiabilité - Coût compétitif - Délai de livraison court - Température [Dispositif ...

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GU22 Series

... Prise de test et de déverminage Taille Peut également être utilisé comme prise de déverminage ●Sondes à broche M très fiables comme pièces de contact ●Haute fréquence Pour dispositif BGA, dispositif QFN 0.pas de 4mm/0.016" ...

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DCL-QFP1414-100-P050

... Latch Lock pour ou QFP,SOP Produits standard La prise de test qui permet de mesurer le signal de transmission à grande vitesse en adoptant la méthode de contact qui presse directement le fil du dispositif contre la carte. Le ...

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socket de test QFN
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YED254

... Contacteur de test personnalisé pour des tailles de pas ≥ 0,30 mm Couvercle facile à fermer Plage de température plus élevée disponible Force de contact (typique) : 15 g à 25 g Performances exceptionnelles Applications ...

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