Socket de test pour électroniques à quartz GUT8 Seriesde rodage
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Caractéristiques
- Applications
- pour électroniques à quartz
- Spécifications
- de rodage
Description
Prise de test pour dispositif à cristaux (oscillateurs à quartz, MEMS, etc.)
Type ouvert
Cette prise de test est conçue pour la configuration automatisée de dispositifs et est idéale pour l'évaluation des performances de composants tels que les oscillateurs à quartz.
- Compatible avec différentes tailles de boîtiers : 2016, 2520, 3225, 5032, etc
- Optimisé en termes de coûts et de délais
- Conceptions personnalisées disponibles sur demande avec les spécifications de l'appareil
Spécifications (typiques)
Courant nominal : 0,5A à 25°C
Résistance de contact initiale : 200mΩ max
Tension de rigidité diélectrique : AC100V rms 1 min
Résistance d'isolation : 1000MΩ min à DC100V
Plage de température : -40 à +150°C
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TestSockets for Characterization Test
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.