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Microscope optique Eclipse LV100ND
pour l'inspection des inclusions non métalliquesd'inspectionpour inspection de wafers en ligne

Microscope optique - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - pour l'inspection des inclusions non métalliques / d'inspection / pour inspection de wafers en ligne
Microscope optique - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - pour l'inspection des inclusions non métalliques / d'inspection / pour inspection de wafers en ligne
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Caractéristiques

Type
optique
Applications
pour l'inspection des inclusions non métalliques, d'inspection, pour inspection de wafers en ligne, de laboratoire, de mesure, médical, pour la recherche en matériaux, de mesure de profondeur, pour mesures sur couches minces, pour mesure sans contact 3 axes, industriel, métallurgique, pour le contrôle qualité, multiusage
Ergonomie
droit
Tête du microscope
trinoculaire, binoculaire
Technique d'observation
à champ clair, à fluorescence, polarisé, à contraste de phase, à fond sombre, à infrarouges, à contraste interférentiel différentiel
Configuration
de paillasse
Source de lumière
à illumination LED, à illumination coaxiale
Autres caractéristiques
de capture d'image, à caméra numérique, pour la topographie, pour wafer, USB, haute résolution, automatisé, de haute précision, pour inspection de fibre optique, pour nanotechnologie, à grande distance de travail, ergonomique, modulaire, acoustique à balayage, pour intégration sur microscope et profilomètre, pour échantillon plat, 3 axes, simple d'installation, à platine glissante, à fort contraste, à fort grossissement, avec control de l'intensité lumineuse, temps réel, pour échantillons polis, de traitement d'images, pour semi-conducteur, motorisé, de haute définition, à température variable, basse température, avec éclairage spécial, pour identification d'amiante, avec système de métrologie interférométrique en lumière blanche, économique
Poids

9,5 kg
(20,9 lb)

Longueur

657 mm
(25,9 in)

Largeur

251 mm
(9,9 in)

Hauteur

506 mm
(19,9 in)

Description

La série de microscopes droits, polyvalents et modulaires, ECLIPSE LV100NDA et LV100ND de Nikon est conçue pour les techniques de contraste optique à éclairage épiscopique et diascopique. Les instruments peuvent être équipés d’une caméra d’imagerie numérique en option et sont idéaux pour l’inspection des matériaux dans de nombreuses applications industrielles. Microscopes droits modulaires, motorisés et manuels Les optiques Nikon CFI60-2 d’excellente qualité fournissent des images parfaites aux deux oculaires et aux caméras d’imagerie numérique avec le logiciel d’analyse de Nikon. La conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE LV100NDA et LV100ND Ces microscopes à éclairage épiscopique et diascopique sont destinés à l’inspection des matériaux et composants industriels, ainsi qu’aux applications de recherche et développement. Série d’optiques CFI60-2 de Nikon La conception innovante de Nikon autorise des techniques d’imagerie claires, notamment le contraste élevé, le fond clair, le fond noir, la polarisation (POL), le contraste interférentiel différentiel (DIC) et l’interférométrie à deux ondes. Appareil photo Nikon Digital Sight Tous les appareils photo de la gamme Digital Sight de Nikon peuvent capturer les images d’un échantillon et les transmettre au logiciel de traitement d’images de la suite NIS-Elements, accompagnées des données du microscope sur la lentille objectif utilisée, le réglage du grossissement et l’intensité lumineuse.
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.