Microscopes pour nanotechnologie Hitachi

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité ...

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... Le FE-SEM moderne exige non seulement des performances élevées, mais aussi une multitude de fonctionnalités, notamment l'observation de zones étendues, l'analyse in situ, la pression variable, l'imagerie à haute résolution à de faibles ...

Résolution spatiale: 1,2 nm

... experts du jour au lendemain. - La technologie de réglage automatique des axes (auto-calibration) permet de rétablir le microscope dans son "meilleur état" à la demande. - Une chambre à échantillons robuste "extractible" ...

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... Performance et puissance dans une plate-forme flexible Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur peut automatiser de nombreuses opérations ...

Grossissement: 6 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 4, 5, 15 nm

... MEB fonctionne à l'énergie propre, ce qui en fait un outil d'analyse économique, sans compromis sur les performances. Le microscope électronique à balayage FlexSEM 1000 II est doté d'un système optique électronique et ...

Grossissement: 10 unit - 25 000 054 unit
Poids: 54 kg
Longueur: 614, 617 mm

... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Cold FEG) - Colonne et blocs d'alimentation ultra-stables pour une meilleure performance de l'instrument - Capacité d'imagerie SEM et STEM simultanée avec correction Cs et résolution atomique - Nouvelle platine à entrée ...

Poids: 990 kg
Largeur: 1 190 mm
Hauteur: 1 800 mm

... Le Hitachi NP6800 est un système de palpage dédié basé sur le MEB et conçu pour répondre aux besoins analytiques des dispositifs semi-conducteurs à nœud de conception de 10 nm et au-delà. L'actionneur piézoélectrique de précision est ...

... Le Hitachi NE4000 nanoEBAC est un système de sondage par faisceau d'électrons pour la caractérisation électrique, l'analyse EBAC et l'imagerie des interconnexions, des matériaux et des composants des dispositifs microélectroniques. La ...