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Combinez les performances d'imagerie et d'analyse d'un microscope électronique à balayage à émission de champ haute résolution (FE-SEM) avec la capacité de traitement d'un faisceau d'ions focalisés (FIB) de nouvelle génération. ...
ZEISS Métrologie industrielle
... technologie de microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec une excellente expérience d'utilisation. Elle contribue à structurer vos routines d'imagerie et d'analyse et à augmenter la productivité. ...
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Les microscopes électroniques à balayage de la série EVO combinent de hautes performances et une expérience conviviale et intuitive qui convient à tous les profils d'utilisateurs, des microscopistes confirmés aux novices. ...
ZEISS Métrologie industrielle
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Le microscope optique droit ZEISS Axioscope a été spécialement conçu pour satisfaire la plupart des exigences habituelles en imagerie optique des laboratoires d'analyse de matériaux. Ce microscope ...
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Longueur: 805 mm
Largeur: 295 mm
Grâce à ZEISS Axio Observer, examinez, développez et analysez en un rien de temps des matériaux, notamment les spécimens métallographiques. Bénéficiez des avantages de la microscopie inversée avec Axio Observer, qui combine ...
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Grossissement: 1 unit - 150 unit
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Microscope ouvert pour l'analyse automatisée des matériaux Simplifiez le processus de microscopie optique en effectuant des recherches avancées sur les matériaux. Obtenez des résultats ...
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Microscope pour les analyses matérialographiques de routine et la documentation intelligente La documentation numérique des échantillons n'a jamais été aussi simple. ZEISS Axiolab 5 est le choix idéal si vos applications ...
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