Microscope STEM Helios Hydra
pour le contrôle qualitépour la recherche en matériaux3D

Microscope STEM - Helios Hydra - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - pour le contrôle qualité / pour la recherche en matériaux / 3D
Microscope STEM - Helios Hydra - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - pour le contrôle qualité / pour la recherche en matériaux / 3D
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur

Caractéristiques

Type
STEM
Applications
pour le contrôle qualité, pour la recherche en matériaux
Technique d'observation
3D
Source d'ions
au xénon, à plasma, à argon
Autres caractéristiques
haute résolution, d'observation
Résolution spatiale

1 µm, 2 µm, 4 µm, 5 µm, 20 µm

Description

Les PFIB-SEM Thermo Scientific Helios Hydra sont des outils polyvalents à applications multiples dotés de quatre espèces d'ions différentes (argon, azote, oxygène et xénon), ce qui vous permet de choisir les ions qui donnent les meilleurs résultats. De bons résultats commencent par une préparation complète de l'échantillon, qu'il s'agisse d'imagerie de lamelles S/TEM, de caractérisation 3D ou d'analyse de défaillances physiques sur de grandes surfaces. L'Helios 5+ Hydra est désormais doté d'une capacité d'applications ciblées améliorée. Découvrez ce que ce système innovant peut faire pour relever vos défis en matière d'analyse des défaillances et de caractérisation des matériaux. Caractéristiques de l'instrument Helios Hydra PFIB-SEM Plusieurs espèces d'ions plasma FIB Vous pouvez facilement passer de l'argon à l'azote, à l'oxygène et au xénon en moins de dix minutes sans sacrifier les performances. Cette flexibilité remarquable élargit significativement l'espace d'application potentiel de la FIBP et permet de mener des recherches sur les interactions entre les ions et les échantillons afin d'optimiser les cas d'utilisation existants. Analyse MEB à ultra-haute résolution Combine la colonne innovante de plasma d'espèces multi-ions-FIB avec la colonne monochromatique Thermo Scientific Elstar UC+ SEM pour fournir des performances avancées en matière de faisceaux d'ions et d'électrons focalisés. Commande de fraisage FIB de précision Contrôle précis des processus de fraisage et des expériences avec des profiles de faisceaux optimisés, même à des courants maximums, avec un logiciel intuitif permettant de gagner du temps pour les applications de workflow manuelles et guidées. Fraisage FIB par plasma extrême Des améliorations significatives pour les applications à grand volume peuvent être obtenues facilement grâce à des alignements automatisés pour toutes les ouvertures PFIB, ce qui permet de toujours accéder à des courants in max 50 % plus élevés et de les optimiser, jusqu'à 6µA.

---

Catalogues

Aucun catalogue n’est disponible pour ce produit.

Voir tous les catalogues de THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.