Probe card à pas fin

Avec l'avancée technologique, l'écart entre les méthodes de test en amont et en aval s'est réduit. Alors que les sondes en porte-à-faux étaient traditionnellement utilisées pour les tests en amont, et les sondes de contact pour les tests en aval, les nouveaux dispositifs comme le WL-CSP, le Flip Chip et le Copper Pillar nécessitent des solutions plus avancées que les sondes en porte-à-faux seules ne peuvent fournir. Seiken a redéfini les normes des tests à pas fin avec notre carte de sonde de contact innovante, capable de gérer des pas aussi petits que 130μm, dépassant les cartes de type avancé conventionnelles, qui supportent généralement des pas de 100μm ou plus. Caractéristiques clés et avantages - Disposition de grille flexible : Accommode facilement les dispositions en grille et les conceptions multi-contact, offrant un niveau de polyvalence que les sondes en porte-à-faux traditionnelles ne peuvent égaler. La maintenance est également simplifiée, avec des remplacements de sondes faciles qui améliorent l'efficacité et réduisent les temps d'arrêt. - Prêt pour la production en volume : Que vous travailliez avec une seule unité pour le prototypage ou que vous ayez besoin d'une production à plus grande échelle, Seiken fournit une qualité constante, garantissant que vos besoins en test sont satisfaits à chaque étape. Exemples d'application - WL-CSP - FlipChip - Copper Pillar Produits connexes - Technologie à pas fin : Les sondes à pas fin de Seiken offrent des tests fiables pour les dispositifs semi-conducteurs avancés d'aujourd'hui. Supportant des pas aussi petits que 130µm, elles sont usinées avec précision pour les agencements de composants ultra-compacts d'aujourd'hui. - Sockets IC à pas fin : Utilisant le design innovant de sonde sans tube de Seiken, ces sockets assurent un contact sécurisé pour les électrodes aussi fines que 130µm de pas. Parfait pour les dispositifs miniaturisés de nouvelle génération, ils garantissent des tests stables même dans les configurations les plus serrées. - Supports de sonde (Fixations de test personnalisées) : Également connus sous le nom de blocs de broches, les supports de sonde sont essentiels pour le sondage de précision dans les tests de composants électroniques. Nos supports de sonde assurent un alignement parfait et un contact stable, que vous utilisiez des formats standard ou que vous ayez besoin d'un design entièrement personnalisé. Faites confiance à Seiken pour offrir fiabilité au point de contact. Spécifications techniques / Caractéristiques - Supporte un pas fin jusqu'à 130μm - Compatible avec les dispositifs WL-CSP, Flip Chip, Copper Pillar - Dispositions de grille et multi-contact flexibles - Remplacement facile des sondes pour réduire les temps d'arrêt - Prêt pour le prototypage et la production en volume