Probe card non-magnétique

à pas fin

Les cartes de test non-magnétiques de Seiken sont conçues de A à Z, soutenues par des années d'expérience. Chaque détail, de la sélection des matériaux et de l'usinage de précision au traitement de surface, à la fabrication de PCB et à l'assemblage, est soigneusement géré dans un processus entièrement intégré. Le résultat est une carte de test qui offre des inspections stables et de haute précision même dans les environnements les plus sensibles aux champs magnétiques. - Un kit de socket optionnel étend encore la fonctionnalité, rendant ces cartes de test idéales pour les tests manuels de dispositifs emballés. - Idéales pour tester des composants sensibles aux champs magnétiques, tels que les compas électroniques, nos cartes de test non-magnétiques offrent des solutions fiables là où une précision de mesure sans compromis est essentielle. - Réseau de broches de test flexible : Avec les capacités de conception avancées de Seiken, les réseaux de broches peuvent être configurés de manière flexible pour répondre aux exigences spécifiques de votre appareil, garantissant des performances et une précision optimales. - Capacité de pas fin — Test de précision à un pas de 150µm : Prend en charge des pas ultra-fins jusqu'à 150µm, ce qui le rend idéal pour les tests de haute précision de composants électroniques miniaturisés. - Solution complète clé en main : De la conception à la fabrication et à l'assemblage, Seiken fournit une production entièrement intégrée, livrant la carte de test non-magnétique optimale adaptée à votre environnement de test. - Production en petite série disponible : Des cartes de test personnalisées sont disponibles à partir d'une seule unité, offrant un support flexible pour les prototypes, les projets de développement et les applications spécialisées. - Option de kit de socket pour les tests manuels : Améliorez la flexibilité en ajoutant un kit de socket optionnel, permettant d'utiliser le même environnement non-magnétique pour des tests manuels efficaces de dispositifs emballés. Exemples d'application : - Inspection de précision des compas électroniques - Caractérisation des CI Hall - Test d'influence des champs magnétiques pour les capteurs MR et MI - Test de haute précision dans des environnements sensibles aux champs magnétiques Exemple de solution personnalisée : - Carte de test non-magnétique pour dispositifs de capteurs magnétiques (utilisée par les fabricants de semi-conducteurs, processus de semi-conducteurs en amont et en aval) Caractéristiques / Spécifications techniques : - Construction non-magnétique pour les environnements sensibles aux champs magnétiques - Prend en charge les réseaux de broches de test avec configuration flexible - Capacité de pas fin jusqu'à 150µm - Conception, fabrication et assemblage intégrés - Kit de socket optionnel pour les tests manuels - Disponible pour la production en petite série (à partir d'une seule unité) - Inspection stable et de haute précision