Probe card pour courant fort

Avec l'avancement des technologies automobiles telles que les IGBT, le besoin de tests à haute intensité, manipulant plusieurs centaines d'ampères à travers les électrodes émettrices, croît rapidement. Les cartes de test traditionnelles peinent souvent sous ces conditions extrêmes, même lorsque la distribution de la charge est optimisée sur plusieurs broches. La carte de test à haute intensité de Seiken surmonte ces obstacles en incorporant la technologie CNT (nanotube de carbone) aux pointes des sondes, augmentant considérablement la capacité de courant admissible. De plus, le corps principal de la carte est construit avec une structure métallique robuste qui permet au courant de circuler également à travers le boîtier, minimisant la charge sur chaque broche individuelle. Ce design innovant permet des mesures de haute intensité bien plus stables et fiables. - Capacité de haute intensité : Les sondes sont renforcées avec la technologie CNT et une structure de boîtier métallique, améliorant considérablement la résistance au courant. Comparées aux sondes à fil traditionnelles, la longueur de terminal plus courte offre une inductance plus faible, contribuant à une performance supérieure. - Caractéristiques AC supérieures : En réduisant la hauteur de la carte de test à moins de la moitié des 30 mm conventionnels, des performances AC significativement améliorées et une stabilité de mesure accrue sont obtenues. - Solutions entièrement personnalisables : Chaque carte de test est conçue sur mesure pour s'intégrer à vos manipulateurs de puces et testeurs. Une fabrication flexible est disponible à partir d'une unité unique jusqu'à une production à grande échelle. Exemples d'application : - Dispositifs de puissance (IGBT, dispositifs SiC, GaN) - Semi-conducteurs de puissance (MOSFET haute tension, diodes) Produits associés : - Technologie de haute intensité : Les sondes plaquées CNT (nanotube de carbone) de Seiken pour les applications à haute intensité offrent une faible résistance, une résilience à la chaleur et une durabilité accrue, assurant un contact fiable avec les électrodes en aluminium et d'autres environnements de test exigeants. - Sockets IC HC-C : Construits avec la technologie propriétaire HC-C (High Current Cube), ces sockets offrent une capacité de transport de courant exceptionnelle par terminal et délivrent une performance électrique solide. Idéaux pour les applications à haute puissance, telles que les dispositifs automobiles et de puissance, ils assurent des tests stables et efficaces dans des conditions exigeantes. - Supports de sondes (fixations de test personnalisées) : Également connus sous le nom de blocs de broches, les supports de sondes sont essentiels pour le sondage de précision dans les tests de composants électroniques. Nos supports de sondes assurent un alignement parfait et un contact stable, que vous utilisiez des formats standard ou que vous ayez besoin d'un design entièrement personnalisé. Spécifications techniques / Caractéristiques : - Intègre la technologie CNT (nanotube de carbone) aux pointes des sondes - Structure métallique robuste pour le flux de courant à travers le boîtier - Endurance à haute intensité (plusieurs centaines d'ampères) - Inductance plus faible grâce à une longueur de terminal plus courte - Hauteur de carte de test réduite pour une performance AC améliorée - Conception personnalisée pour l'intégration avec les manipulateurs de puces et testeurs - Fabrication flexible d'une unité unique à une production à grande échelle