Socket de test pour hautes fréquences

pour dispositif ICà souder par immersion

Prises haute fréquence pour l'évaluation de l'implémentation LSI Idéales pour l'analyse des défaillances, le prototypage et les tests de signaux à haute vitesse sur les cartes d'évaluation LSI et les circuits imprimés de production. Prend en charge PAM4, PCIe Gen5, DDR5, USB 3.0, etc Les sondes ultra-courtes garantissent des performances à haute fréquence Le montage direct sur les plots d'origine reproduit les chemins de signaux réels Deux types disponibles : - Montage à vis : - Installation facile avec une modification minimale de la carte - Jusqu'à 1000 broches, corps compact de 14,5 mm - Moteur de ventilateur et dissipateur thermique disponibles en option - Montage en surface : - Support au pas de 0,4 mm - Levier rotatif et dissipateur thermique inclus - Convient pour une utilisation directe sur les circuits imprimés de production Prise en charge de la gestion thermique, des décharges électrostatiques et de l'analyse des émissions Options de boîtiers personnalisés disponibles pour les cartes sans trous de prise Idéal pour le remplacement de dispositifs, le développement de logiciels et l'évaluation