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Système de mesure 3D PM300
pour waferpour semi-conducteurmicroscope

système de mesure 3D
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Caractéristiques

Technologie
3D
Produit mesuré
pour wafer, pour semi-conducteur
Autres caractéristiques
microscope

Description

La station de sondes analytiques PM300 est la référence du secteur en matière d'analyse manuelle des défaillances des semi-conducteurs et de tests en cours de fabrication. La mécanique supérieure de ce système de sonde polyvalent permet une configuration stable et précise du système, quelle que soit votre application. Le PM300 est disponible en système ouvert ou blindé PM300PS. Le système de sondes analytiques manuelles PM300PS crée un environnement de mesure exempt d'interférences électromagnétiques (EMI) et de radiofréquences (RFI) pour la caractérisation et la modélisation des dispositifs, le développement des processus, la fiabilité des plaquettes, l'analyse des défaillances et les tests d'ingénierie des circuits intégrés 3D.

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Ceci est une traduction automatique  (voir l’original en anglais)

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