Système de mesure pour wafer CM300xi-ULN

système de mesure pour wafer
système de mesure pour wafer
système de mesure pour wafer
système de mesure pour wafer
système de mesure pour wafer
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
 

Caractéristiques

Produit mesuré
pour wafer

Description

station de sondage de 300 mm pour les mesures du bruit de scintillement (1/f), du bruit des signaux télégraphiques aléatoires (RTN ou RTS) et du bruit de phase des dispositifs ultrasensibles FormFactor a amélioré sa station de sondage CM300xi, leader sur le marché, avec des technologies révolutionnaires pour répondre aux nouvelles capacités de test aux nœuds technologiques de 5, 3 et 2 nm, destinés aux applications 5G et au-delà. Le nouveau CM300xi-ULN offre désormais des performances de mesure sans précédent et réalise quatre premières industrielles importantes dans le domaine des tests de flicker basse fréquence, de RTN et de bruit de phase sur les plaquettes : Technologie PureLine 3 Première station de sonde automatisée à atteindre un bruit spectral de -190dB* Branchez et partez La gestion intégrée de l'alimentation TestCell fournit une alimentation CA entièrement gérée et filtrée à l'ensemble du système, au sondeur et aux instruments Fonctionnement autonome 24h/24 et 7j/7 Tests thermiques de bruit de scintillement jusqu'à 4 fois plus rapides sur des plaquettes de 30 μm Réduire le temps et les coûts d'installation Services exclusifs d'étude des sites à faible bruit et de vérification des systèmes

---

VIDÉO

Catalogues

Aucun catalogue n’est disponible pour ce produit.

Voir tous les catalogues de FORMFACTOR
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.