Système de mesure pour wafer PM8

microscope

Le PM8 est conçu pour fournir une plateforme de palpage hautement stable, ergonomique et flexible pour les applications de palpage analytique précis jusqu'à 200 mm, telles que les caractérisations de dispositifs et de plaquettes, l'analyse de défaillance (FA), le palpage RF/mmW et sub-THz, l'opto-ingénierie et les MEMS. Plateau de sonde - Compatible avec les adaptateurs de carte de sonde - Les cartes de sondes et les positionneurs peuvent être utilisés simultanément - Grand espace permettant d'installer plusieurs positionneurs de chaque côté - Plateau à ondes millimétriques pour la traction de charge à 110 GHz et d'autres applications de bruit RF - Plateau refroidi pour les mandrins jusqu'à 300 °C Mouvement du plateau - Course de 45 mm pour une flexibilité maximale - La hauteur du système s'adapte facilement aux applications de plaquettes de silicium ou de cartes de circuits imprimés - Option de mouvement motorisé pour un fonctionnement rapide