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... bandes de substrats IC scannées par
systèmes AVI. SVS 10μ, station de vérification CIMS propulsée par Sprint™, est conçue pour la vérification de géométries lignes/doigts jusqu'à 10 µm (optimisée pour 10–18 µm).
Le
système ...
CIMS
... est une station de vérification AVI pour substrats de circuits intégrés, conçue pour vérifier des bandes scannées par des systèmes AVI. Alimentée par Sprint™, la station est optimisée pour les technologies avec largeur de lignes/doigts ...
CIMS
... CIMS AVI, propulsée par Sprint™, destinée à la vérification des bandes de substrats IC scannées par des systèmes AVI. Elle est optimisée pour l' inspection des largeurs de traits/doigts de 5–8 µm et offre des fonctions ...
CIMS
... assurant un débit élevé.
Optique et éclairage
Le
système combine un canal lumineux réfléchi/coaxial et trois canaux diffus séparés pour maximiser le contraste sur
surfaces dorées et sur le solder mask. ...
CIMS
... précision utilisés en filtration, contrôle des fluides et dosage. Les fabricants ont besoin d'une inspection fiable pour vérifier les réseaux de micro‑trous, la géométrie des alésages, l'état des arêtes, la finition ...
... Inspecteur des défauts de surface – Vue unique L’inspecteur de défauts de surface à caméra unique (SI1100) capture, analyse et juge la surface des soudures ou des produits plats tels ...
... l'objet de mesure. Les défauts de surface causent des déviations dans les franges de lumière qui sont alors enregistrées par une caméra et évaluées par un logiciel. Caractéristiques * Inspection des ...
... SYSTÈME D’ INSPECTION SMART FACTORY (SFIS) API, reconnaissant la demande croissante de l’industrie manufacturière pour l’automatisation de la mesure des pièces, avec un degré de précision de plus en plus élevé, a développé ...
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