Microscope SEM CLARA

pour inspection de matériaude paillasseautomatisé

MEB analytique UHR sans champ pour la caractérisation des matériaux à l'échelle nanométrique - Caractérisation sans compromis de tous les types de matériaux à l'échelle nanométrique - Idéal pour la caractérisation des matériaux à faible énergie de faisceau pour une topographie de surface maximale - Excellente imagerie des échantillons sensibles au faisceau et non conducteurs - Configuration entièrement automatisée du faisceau d'électrons - des conditions d'imagerie optimales sont garanties par le faisceau en vol Tracing™ - Navigation intuitive au MEB en direct sur l'échantillon à un grossissement aussi faible que 2× sans avoir besoin d'une caméra de navigation optique supplémentaire grâce à la conception Wide Field Optics™ - Conception unique du multidétecteur dans le faisceau permettant une détection de l'ESB sélective en termes d'angle et d'énergie - Plate-forme logicielle modulaire intuitive conçue pour un fonctionnement sans effort, quel que soit le niveau de compétence des utilisateurs