Présentation du produitChambre HAST (Highly Accelerated Stress Test) conçue pour évaluer les composants électroniques et les boîtiers semiconducteurs sous conditions combinées de pression, température et humidité (généralement 70 %–100 % HR, vapeur saturée). La chambre reproduit des environnements sévères pour analyser la résistance à l'humidité, le risque de délamination, la corrosion des métallisations et les défauts électriques sur PCB, FPC et boîtiers semiconducteurs.
NormesConforme à la norme JESD22-A110.
Types d'essais combinés- HAST saturé : typiquement 121 °C avec 100 % HR (vapeur saturée).
- HAST insaturé : typiquement 110 °C / 120 °C / 130 °C avec humidité d'environ 70 %–85 % HR.
Sécurité- Verrouillage de la cuve intérieure : empêche le démarrage si la cuve intérieure n'est pas correctement fermée.
- Soupape de sécurité : décharge automatique si la pression intérieure dépasse la valeur de sécurité.
- Double protection contre la surchauffe : alarme et coupure automatique de la chauffe si la température intérieure est excessive.
- Protection du couvercle : couvercle intérieur en alliage d'aluminium pour protéger l'opérateur des brûlures.
Caractéristiques techniques- Modèles : HAST - 35; HAST - 45; HAST - 55
- Dimension interne Φ x D (mm) : HAST-35 = 350 x 450 ; HAST-45 = 450 x 550 ; HAST-55 = 550 x 650
- Dimension externe (mm) : HAST-35 = 900 x 1350 x 900 ; HAST-45 = 1000 x 1480 x 1000 ; HAST-55 = 1150 x 1650 x 1200
- Plage de température vapeur : 100 °C – 135 °C (143 °C en option)
- Humidité de vapeur : 70 – 100 % HR (ajustable)
- Recirculation : circulation forcée de vapeur pour homogénéité
- Dispositifs de sécurité : protection bas niveau d'eau ; protection anti-suralimentation en pression ; remplissage d'eau automatique/manuel ; évacuation automatique de pression
- Accessoires : plateaux en acier inoxydable à deux couches