Socket de test pour dispositif IC

pour hautes fréquences

À mesure que les appareils continuent de rétrécir et que la densité d'emballage augmente, la demande de solutions de test à pas fin haute performance n'a jamais été aussi grande. Les sockets IC à pas fin de Seiken sont conçus pour relever ce défi, permettant aux ingénieurs et aux fabricants de tester les appareils les plus compacts et complexes en toute confiance. Au cœur de notre solution se trouve la technologie de sonde sans tube de Seiken, conçue pour prendre en charge des pas aussi fins que 130μm. Cette conception révolutionnaire offre un contact robuste et fiable tout en maintenant une résistance mécanique exceptionnelle, même dans les applications les plus exigeantes des environnements de test modernes. Nos sockets IC à pas fin sont un outil essentiel pour le développement et le test de l'électronique de pointe. - Nos sockets sont entièrement personnalisables pour répondre aux exigences non magnétiques, mécaniques personnalisées et autres exigences spécifiques, garantissant des performances constantes dans une large gamme de conditions spécialisées. - Fabrication flexible et en faible volume à partir d'une seule unité. Les équipes d'ingénierie et de production internes fournissent des solutions sur mesure avec rapidité et précision. Exemples d'application: - Puces à pas fin - Composants discrets, entre autres Caractéristiques clés et avantages: - Conçu pour des performances à pas fin: Personnalisable pour des exigences non magnétiques, mécaniques personnalisées et autres. - Prend en charge des pas aussi fins que 130μm avec la technologie de sonde sans tube. - Contact robuste et fiable et résistance mécanique exceptionnelle. - Production flexible à partir d'une unité: Convient pour le prototypage et la fabrication en faible volume. Produits connexes: - Technologie à pas fin: Les sondes à pas fin de Seiken offrent des tests fiables pour les dispositifs semi-conducteurs avancés, prenant en charge des pas aussi petits que 130µm. - Carte de sonde à pas fin: Conçue pour des agencements difficiles comme les dispositifs WL-CSP et à pilier de cuivre, capable de gérer des pas aussi petits que 130µm. - Supports de sonde (fixations de test personnalisées): Essentiels pour le sondage de précision dans les tests de composants électroniques, garantissant un alignement parfait et un contact stable. Spécifications techniques / Caractéristiques: - Pas pris en charge: aussi fin que 130μm - Personnalisable pour des exigences non magnétiques et mécaniques - Production flexible: à partir d'une unité - Contact robuste et fiable - Convient pour les puces à pas fin et les composants discrets