Socket de test pour dispositif IC
Kelvinà contact direct

Socket de test pour dispositif IC - Seiken Co., Ltd. - Kelvin / à contact direct
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Caractéristiques

Applications
pour dispositif IC
Spécifications
Kelvin, à contact direct

Description

Les sockets IC Kelvin de Seiken sont conçus pour simplifier les mesures à quatre bornes (connexion Kelvin), offrant des tests de faible résistance très précis qui dépassent les limites des méthodes conventionnelles. Conçus pour prendre en charge des puces ultra-compactes, y compris celles de moins de 1mm², ces sockets sont parfaitement adaptés aux circuits intégrés de plus en plus miniaturisés et à haute densité d'aujourd'hui. La mesure Kelvin exige des conceptions de fixations spécialisées, et Seiken fournit un support complet de bout en bout, de la conception de fixations personnalisées à la fabrication complète, garantissant une intégration absolue dans votre environnement de test. - Disposition flexible des broches pour des besoins de test complexes : Contrairement aux sockets traditionnels, les sockets IC Kelvin de Seiken permettent des dispositions de broches entièrement personnalisables, tant que les conditions de pas sont satisfaites. Que ce soit pour mesurer entre 100 et 1000 électrodes par puce ou pour effectuer des mesures multi-puces simultanées, ces solutions offrent la flexibilité nécessaire pour s'adapter à une large gamme d'exigences de test avancées. - Remplacement facile des broches et excellente maintenabilité : Seiken maintient la même facilité de remplacement des broches que tous leurs sockets IC, garantissant un entretien simple et minimisant les temps d'arrêt. Avec une production en petite série disponible à partir d'une seule unité, les sockets Kelvin sont idéaux pour le développement de prototypes et les séries de fabrication à faible volume. Exemples d'application : - WL-CSP - QFN - SON - Composants discrets, et plus encore Produits connexes : - Technologie de mesure Kelvin : Les sondes Kelvin brevetées permettent des mesures ultra-précises de faible résistance sur des électrodes à pas fin. Avec un contact à double point aussi proche que 0,1 mm, elles assurent une connectivité stable, une durabilité supérieure et une précision inégalée pour les appareils de nouvelle génération. - Carte de sonde Kelvin : Avec une méthode de détection à quatre bornes, ces cartes gèrent des pas ultra-fins tout en assurant des mesures de résistance précises. Elles prennent en charge des pas fins à partir de 0,35 mm, avec seulement 0,1 mm d'écart entre les bornes, garantissant des performances optimales dans les applications de haute précision. - Supports de sonde (Fixations de test personnalisées) : Également connus sous le nom de blocs de broches, les supports de sonde sont essentiels pour le sondage de précision dans les tests de composants électroniques. Ces supports assurent un alignement parfait et un contact stable, qu'ils utilisent des formats standard ou nécessitent une conception entièrement personnalisée. Caractéristiques techniques / Fonctionnalités : - Prend en charge les mesures à quatre bornes (connexion Kelvin) pour des tests de faible résistance très précis - Compatible avec les puces ultra-compactes (moins de 1mm²) - Dispositions de broches personnalisables pour des tests complexes et à haute densité - Remplacement facile des broches et haute maintenabilité - Production en petite série disponible (à partir d'une unité) - Idéal pour le développement de prototypes et la fabrication à faible volume

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