Microscope à balayage de sonde VT SPM

de laboratoirein-situde paillasse

25 K 1500 K Vrai pA STM Spectroscopie dI/dV améliorée Déviation du faisceau AFM Capteur QPlus AFM Évaporation in situ Le microscope VT SPM d'Omicron est un microscope bien établi dans de nombreux laboratoires de recherche pour la microscopie à sonde à balayage. Il a remporté le prix prestigieux de la R&D en 1996. A ce jour, plus de 500 instruments ont été livrés et installés avec succès dans le monde entier. Le volume de résultats de recherche et de publications est une preuve concluante de la performance, de la qualité et de la polyvalence de la conception de la MPS à température variable. Le SPM à température variable utilise la toute dernière technologie de préamplificateur pour la microscopie et la spectroscopie à effet tunnel à balayage sub-pA. Un fonctionnement stable à faible courant est important pour l'étude des surfaces sensibles ou de faible conductivité. Pour la spectroscopie de modulation, une compensation électronique réduit l'influence des courants parasites. Cela permet d'économiser du temps d'acquisition et d'améliorer les résultats. La technologie AFM du SPM à température variable est basée sur plus de 20 ans d'expérience en microscopie à force atomique en UHV. Il a été continuellement développé et amélioré. L'AFM classique de déviation de faisceau pour AFM avec et sans contact offre la flexibilité nécessaire pour de nombreux modes de fonctionnement et différents types de porte-à-faux. Par exemple, l'AFM haute résolution, la microscopie à force de friction, la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à sonde Kelvin à balayage (SKPM) et la microscopie à force magnétique (MFM) sont disponibles.