Microscopes à température variable

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microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
ZEISS EVO

... Dans un environnement industriel de qualité, d'analyse de défaillance ou de recherche, le microscope électronique à balayage (MEB) est la solution de choix pour les applications de métallographie et d'analyse de défaillance, ...

microscope AFM
microscope AFM
CoreAFM

Résolution spatiale: 5 nm - 100 000 nm

... L'AFM de recherche compacte qui offre le meilleur rapport qualité-prix Le CoreAFM est le résultat d'une combinaison intelligente des composants de base de l'AFM pour atteindre un maximum de polyvalence et de convivialité. En raison de ...

microscope polarisant
microscope polarisant
ECLIPSE LV100N POL

Poids: 17 kg
Longueur: 490 mm
Largeur: 251 mm

Les microscopes de polarisation ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL de Nikon sont utilisés pour étudier les propriétés biréfringentes des échantillons anisotropes par l’observation des changements de contraste et de couleur ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
Eclipse LV100ND

Poids: 9,5 kg
Longueur: 362 mm
Largeur: 251 mm

... conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...

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Nikon Metrology
microscope métallurgique
microscope métallurgique
ECLIPSE MA200

Grossissement: 1 unit - 100 unit
Longueur: 295 mm
Largeur: 215 mm

... La conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...

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Nikon Metrology
microscope optique
microscope optique
Eclipse Ci-POL

Grossissement: 5 unit - 100 unit
Poids: 14 kg
Longueur: 271 mm

Les microscopes de polarisation ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL de Nikon sont utilisés pour étudier les propriétés biréfringentes des échantillons anisotropes par l’observation des changements de contraste et de couleur ...

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microscope à balayage de sonde
microscope à balayage de sonde
Fermi DryCool SPM

... technologie DryCoolTM de Scienta Omicron permet de découpler efficacement le bruit mécanique et thermique inhérent à un niveau typique de basse température à la pointe de la technologie. SPM´s La dérive ...

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Scienta Omicron
microscope à effet tunnel
microscope à effet tunnel
LT STM

... fiable assurant un temps de fonctionnement élevé Température indépendante de la pointe et de l'échantillon Technologie AFM QPlus® de pointe Depuis son introduction en 1996, notre STM basse température ...

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microscope à balayage de sonde
microscope à balayage de sonde
VT SPM

... preuve concluante de la performance, de la qualité et de la polyvalence de la conception de la MPS à température variable. Le SPM à température variable utilise la toute ...

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