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Résolution spatiale: 515, 1 030 nm
... balayage). Cette combinaison "TriBeam" permet une imagerie et une analyse à haute résolution avec une capacité d'ablation in situ, offrant des taux d'enlèvement de matière sans précédent pour une caractérisation ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Résolution spatiale: 0,2, 0,37 nm
... Microscope TEM et STEM polyvalent pour la visualisation 2D et 3D d'échantillons et de matériaux sensibles aux faisceaux, avec un contraste élevé. Microscope électronique à transmission Talos L120C G2 Le ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Résolution spatiale: 0,1, 0,2, 0,6, 0,7, 0,14 nm
... TEM à résolution atomique pour l'analyse des matériaux avec un mode environnemental pour les études TEM in situ. L'observation in situ de la dynamique des structures ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm
... des performances élevées, mais aussi une multitude de fonctionnalités, notamment l'observation de zones étendues, l'analyse in situ, la pression variable, l'imagerie à haute résolution à de faibles tensions ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Résolution spatiale: 1,2 nm
... experts du jour au lendemain. - La technologie de réglage automatique des axes (auto-calibration) permet de rétablir le microscope dans son "meilleur état" à la demande. - Une chambre à échantillons robuste "extractible" ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm
... Cold FEG) - Colonne et blocs d'alimentation ultra-stables pour une meilleure performance de l'instrument - Capacité d'imagerie SEM et STEM simultanée avec correction Cs et résolution atomique - Nouvelle platine à entrée ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... cartographie des points des microscopes Raman inVia™ aux microscopes électroniques à balayage (MEB). Raman + MEB Le microscope inVia et l'interface SCA fournissent une technique d'analyse ...
... le fossé entre les microscopes à rayons X à hautes performances et les systèmes de tomodensitométrie (TDM) moins puissants. Délivrant une imagerie 3D non destructive avec les meilleures capacités de résolution, de contraste ...
ZEISS Industrial Metrology
Grossissement: 300 000 unit
Résolution spatiale: 3, 4, 8 nm
Poids: 480 kg
... Le CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène de haute performance. Il offre une excellente qualité d'image, une compatibilité avec le mode faible vide, des images à haute résolution ...
CIQTEK Co., Ltd.
Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 1, 1,5, 0,8 nm
Poids: 950 kg
... Le CIQTEK SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM, FEG SEM) à haute résolution et riche en fonctionnalités. Conception avancée de la colonne, technologie de tunnel à haute tension ...
CIQTEK Co., Ltd.
Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,6 nm
Poids: 400 kg
... Le SEM5000X est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) à ultra-haute résolution résolution de 0,6 nm@15 kV et de 1,0 nm@1 kV. Bénéficiant d'un processus d'ingénierie de colonne amélioré, de ...
CIQTEK Co., Ltd.
Résolution spatiale: 200 nm
Poids: 1 kg
... X-Y-Z-Phi d'une compacité unique pour positionner facilement l'échantillon de sciences de la vie - médical. Il s'agit d'un microscope numérique inverse USB/GigE ultra compact avec condenseur optimisé et LED de lumière ...
Poids: 17 kg
Longueur: 490 mm
Largeur: 251 mm
Les microscopes de polarisation ECLIPSE LV100N POL et Ci-POL de Nikon sont utilisés pour étudier les propriétés biréfringentes des échantillons anisotropes par l’observation des changements de contraste et de couleur ...
Grossissement: 100 unit - 500 unit
Longueur: 160 mm
... systèmes de tuyauterie, les centrales électriques, etc. La métallographie in situ permet d'évaluer rapidement un composant sur place. L'utilisation de la métallographie in situ/de ...
... QPlus®) et différents modes de spectroscopie dont STS, IETS et force spec-troscopy. L'échange de pointes et d'échantillons in situ, y compris quatre contacts électriques sur la plaque d'échantillon, permet ...
Scienta Omicron
Résolution spatiale: 532, 785 nm
... grande quantité de matériaux. Grâce à sa conception compacte et à sa portabilité, le RamMics M532/785 assure des résultats in-situ de haute qualité avec des dépenses minimales et s'avère être un outil ...
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