Sockets de test pour dispositifs IC Smiths Interconnect

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socket de test PoP
socket de test PoP
Euclid Series

... d'essais de paquets sur emballage (PoP). Complexe dans sa conception, le test PoP nécessite l'engagement simultané du haut et du bas du circuit intégré. La solution Euclid pour le test manuel utilise ...

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socket de test QFN
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Celsius Series

... Le contact Celsius de Smiths Interconnect profite d'un trajet de signal légèrement plus long pour offrir des avantages significatifs en termes de conformité, de tenue en température et de capacité de charge. En tant que contact autonome, ...

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socket de test PoP
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Silmat®

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socket de test WLCSP
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Volta series

... sondes à ressort flottant de Smiths Interconnect permet un déploiement sans faille lors des tests de la balance Wafer Level Chip Scale Packages. Nous travaillons en étroite collaboration avec nos clients pour développer ...

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socket de test QFN
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Kepler

... pendant la course descendante du dispositif pour éliminer les oxydes de surface, fournir un contact stable et fiable et ne pas endommager le circuit imprimé. Caractéristiques et avantages Caractéristiques techniques ...

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socket de test QFN
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socket de test à contact élastomérique
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Levan

... la rendent électriquement invisible pour le système de test, ce qui évite d'endommager les appareils testés et offre des avantages électriques et mécaniques inégalés. Levan élève les normes de test ...

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socket de test ASIC
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DaVinci Gen V

... La prise de test coaxiale DaVinci Gen V constitue une solution prête à l'emploi pour les tests fonctionnels complets des ASIC de pointe. Sa conception de précision garantit une intégrité de signal inégalée, éliminant ...

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socket de test PoP
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