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Système de mesure anti-effraction DX-9000 series
résistivitéeffet Hallpar conductivité

Système de mesure anti-effraction - DX-9000 series - Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd. - résistivité / effet Hall / par conductivité
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Caractéristiques

Grandeur physique
résistivité, anti-effraction, effet Hall
Technologie
magnétique, par conductivité
Mode de fonctionnement
automatisé
Produit mesuré
pour semi-conducteur, pour matériaux magnétostrictifs
Applications
pour applications industrielles, de laboratoire, pour test de composant
Autres caractéristiques
configurable

Description

Présentation
  • La série DX-9000 est un système entièrement automatisé de mesure des propriétés de transport électrique pour la caractérisation de l'effet Hall, de la magnétorésistance (R–H), de la résistance en fonction de la température (R–T) et des caractéristiques I–V. Il intègre des instruments de mesure de précision (par ex. Keithley), des sources de champ magnétique sélectionnables (électroaimants ou aimants supraconducteurs sans hélium liquide), des supports d'échantillon configurables et un logiciel de test automatisé pour des mesures reproductibles.


Fonctions
  • Mesurer l'effet Hall, les caractéristiques R–H (résistance en fonction du champ magnétique), les caractéristiques R–T (résistance en fonction de la température) et les caractéristiques I–V (résistivité).
  • Dériver les paramètres : résistance feuille, résistivité, coefficient Hall, mobilité Hall, concentration de porteurs et type de conductivité.
  • Générer des sorties caractéristiques : courbes de paramètres dépendant de la température ou du champ magnétique ; courbes I–V sous différents champs et températures ; tracés R–H et R–T pour l'analyse et les rapports.


Principales caractéristiques
  • Mesures de résistivité, coefficient Hall et mobilité Hall conformes à la norme ASTM‑F76.
  • Large plage de mesure de résistance et de résistivité selon la configuration (de l'ultra‑faible ~100 nΩ aux fortes résistances jusqu'à 100 GΩ pour certaines configurations).
  • Carte d'échantillon enfichable fournie avec carte quatre‑points pour simplifier le montage des échantillons et réduire le temps de préparation des électrodes.
  • Configuration standard mesurant deux échantillons simultanément ; extension optionnelle pour quatre échantillons.
  • Séquences de mesure et calcul automatisés via logiciel dédié ; un jeu de données Hall typique peut être obtenu en ~3 minutes.
  • Champ magnétique très stable (stabilité 24 h < ±0,5 G) avec franchissement de zéro fluide ; alimentation de l'électroaimant intégrant un gaussmètre et un réglage fin (résolution 0,1 G ; exemple montée 0→1 kG en ~20 s).
  • Options de contrôle de température sélectionnables permettant des mesures Hall et résistance sur de larges plages de température.


Configurations disponibles et capacités principales
  • Systèmes standard (modèles) : DX-9003, DX-9005, DX-9007 — mobilité jusqu'à ~1×10^5 cm^2/Vs ; concentration de porteurs ≈ 6×10^12 à 6×10^21 cm^-3 ; résistivité 5×10^-7 à 5×10^2 Ω·cm.
  • Systèmes haute sensibilité (modèles) : DX-9003HS, DX-9005HS, DX-9007HS — mobilité jusqu'à ~1×10^6 cm^2/Vs ; concentration de porteurs jusqu'à ~6×10^23 cm^-3 ; résistivité jusqu'à ~5×10^-9 Ω·cm.
  • Systèmes haute résistance (modèles) : DX-9003HR, DX-9005HR, DX-9007HR — concentration de porteurs de ~6×10^8 à ~6×10^23 cm^-3 ; résistivité jusqu'à ~5×10^6 Ω·cm ; mesure de résistance jusqu'à 10 GΩ.
  • Options d'environnement thermique : boîte à azote liquide monopoint (77 K) ; thermostats azote liquide (standard 80–325 K ; haute température 80–500 K) ; réfrigérateurs à circulation (4 K–325 K ou 10 K–325 K) ; four haute température (325 K–1000 K).
  • Environnements de champ magnétique : électroaimants à température ambiante (ex. 1 T @10 mm ; 2,4 T @10 mm ; 2,6 T @10 mm selon modèle) ; cryostats à température variable (ex. 0,44 T @ LN2 jusqu'à 2,0 T @ LN2 selon modèle ; 0,26–1,5 T pour réfrigérateurs à cycle fermé selon type).
  • Options : plates‑formes cryogéniques supraconductrices sans hélium liquide (série CFMS, 5 T–18 T, 1,6 K–400 K), options optiques (pôle polar, boîte d'occultation optique avec chemin optique), table rotative, pompe à vide, unité de refroidissement à eau en circuit et options supplémentaires température/champ magnétique.


Caractéristiques techniques
  • Série / modèles : série DX-9000 (variantes Standard, HS, HR : DX-9003/9005/9007 ; DX-9003HS/9005HS/9007HS ; DX-9003HR/9005HR/9007HR).
  • Grandeurs mesurées : effet Hall, magnétorésistance (R–H), résistance dépendant de la température (R–T), caractéristiques I–V.
  • Paramètres dérivés : résistance feuille, résistivité, coefficient Hall, mobilité Hall, concentration de porteurs, type de conductivité.
  • Plages de mesure de résistance (selon configuration) : Standard ≈ 10 mΩ – 10 MΩ ; Haute sensibilité ≈ 0,1 mΩ – 10 mΩ (option basse résistance 100 nΩ – 10 mΩ) ; Haute résistance 0,1 mΩ – 10 GΩ.
  • Source de courant : Standard/HS ±50 pA – ±1,05 A (ex. ±1,05 A @ ±21 V, ±105 mA @ ±210 V) ; HR ±0,1 pA – ±0,1 A ; résolution de mesure : HS/Standard jusqu'à 10 pA / HR jusqu'à 10 fA.
  • Source/mesure de tension : plages et résolutions exemples : Standard résolution minimale 0,1 μV (±0,1 μV – ±200 V) ; HS ±1 nV – ±100 V ; HR ±1 nV – ±100 V.
  • Plages de résistivité : Standard 5×10^-7 – 5×10^2 Ω·cm ; HS 5×10^-9 – 5×10^2 Ω·cm ; HR 5×10^-9 – 5×10^6 Ω·cm.
  • Plages de mobilité : Standard jusqu'à ~1×10^5 cm^2/Vs ; HS/HR jusqu'à ~1×10^6 cm^2/Vs (selon modèle).
  • Plages de concentration de porteurs : Standard ≈ 6×10^12 – 6×10^21 cm^-3 ; HS jusqu'à ~6×10^23 cm^-3 ; HR de ~6×10^8 – 6×10^23 cm^-3 (selon modèle).
  • Stabilité du champ magnétique : stabilité 24 h < ±0,5 G ; gaussmètre intégré et réglage fin ; franchissement de zéro fluide.
  • Tailles maximales d'échantillons (exemples selon variante) : 10 × 10 × 3 mm ; 30 × 30 × 3 mm ; 50 × 50 × 3 mm.
  • Nombre d'échantillons mesurés simultanément : Standard 2 (extensible à 4) ; configurations HS/HR typiques pour un seul échantillon en haute sensibilité/haute résistance.
  • Empreinte d'installation typique (exemples) : 2 m × 1,5 m ; 5 m × 2 m (selon configuration).
  • Précision de test : sous hypothèses indiquées (épaisseur échantillon 100 nm, champ 10 000 Gauss, coefficient de correction 1) : précision de test de résistance ≈2 % ; résistivité, coefficient Hall, concentration de porteurs et mobilité ≈5 %.

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