Système de mesure effet Hall DX-70

de concentricitérésistivitépour semi-conducteur

Le système de mesure de Hall DX-70 est utilisé pour mesurer des paramètres importants tels que la concentration de porteurs, la mobilité, la résistivité et le coefficient de Hall des matériaux semi-conducteurs. Ces paramètres doivent être contrôlés à l'avance pour comprendre les propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs. Par conséquent, le système de test de l'effet Hall est un outil important pour comprendre et étudier les dispositifs à semi-conducteurs et les propriétés électriques des matériaux semi-conducteurs. Le système de mesure de l'effet Hall DX-70 se compose d'un électro-aimant, d'une alimentation électrique pour électro-aimant, d'une source de courant constant de haute précision, d'un voltmètre de haute précision, d'une carte matricielle, d'un porte-échantillon à effet Hall, d'un échantillon standard et d'un logiciel de système. Ce système d'essai HMS utilise la dernière source de test importée de KEITHLEY, combinée à la carte matricielle correspondante à faible latence et à large bande passante, ce qui améliore considérablement la gamme et la précision du courant d'alimentation de l'échantillon et de la tension de Hall de l'échantillon d'essai. La large gamme de courant d'alimentation et de tension d'essai peut couvrir la plupart des dispositifs semi-conducteurs sur le marché. Les résultats expérimentaux sont automatiquement calculés par le logiciel, et des paramètres tels que la concentration de porteurs en vrac, la concentration de porteurs en feuille, la mobilité, la résistivité, le coefficient de Hall et la magnétorésistance peuvent être obtenus en même temps.