Sonde ionique focalisée

Fraisage par faisceau d'ions large pour le polissage de la surface et de la section transversale des échantillons en vue de l'imagerie et de la caractérisation par MEB L'observation et la caractérisation de haute qualité des matériaux nécessitent souvent une surface sans artefact, ce qui peut être difficile à obtenir avec les techniques de polissage traditionnelles telles que le meulage ou le polissage mécanique. Le système Thermo Scientific CleanMill Broad Ion Beam est la solution complète de polissage par faisceau d'ions pour les applications SEM en science des matériaux, permettant une imagerie et une analyse optimales des matériaux pour lesquels une surface vierge est requise, y compris les matériaux sensibles au faisceau et à l'air. Le système CleanMill est entièrement compatible avec le système de transfert d'échantillons Thermo Scientific CleanConnect, ce qui facilite le transfert rapide des échantillons entre les instruments tout en minimisant la manipulation des échantillons. Source d'ions à haute énergie La source d'ions à très haute énergie est dotée d'une tension d'accélération maximale de 16 kV qui permet de fraiser et de polir rapidement les surfaces des échantillons. Polissage de surface ultrafin Le système CleanMill peut être configuré avec un canon à ions de basse énergie en option pour le polissage final des surfaces des échantillons. Tension d'accélération étendue Le système délivre une énergie ionique allant de 2 kV à 16 kV et dispose d'une optique dédiée pour le polissage à ultra-basse tension de 100 V à 2 kV. Compatibilité avec le système CleanConnect Transférez en toute sécurité les échantillons du système CleanMill vers la chambre du microscope en utilisant le flux de travail Thermo Scientific IGST (transfert d'échantillons sous gaz inerte) pour observer les matériaux dans leur état natif. Surveillance en temps réel L'écran tactile intégré et la caméra haute résolution vous aident à suivre le processus de broyage par faisceau d'ions large.