Microscope électronique à transmission Spectra 200

pour le contrôle qualitépour la recherche en matériauxpour semi-conducteur

Microscope TEM et STEM à haut débit pour toutes les applications de la science des matériaux. Pour que les scientifiques puissent progresser dans leur compréhension des échantillons complexes et développer des matériaux innovants, ils doivent avoir accès à une instrumentation robuste et précise capable de corréler forme et fonction, ainsi que de résoudre l'espace, le temps et la fréquence. Thermo Fisher Scientific présente le Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM, le microscope électronique à transmission (à balayage) à haut débit et à aberration corrigée pour toutes les applications de la science des matériaux. Avantages du microscope électronique à transmission à balayage Spectra 200 Tous les Spectra 200 (S)TEM sont livrés sur de nouvelles plates-formes conçues pour offrir un niveau sans précédent de stabilité mécanique et une qualité d'imagerie optimale grâce à une isolation vibratoire passive et (en option) active. Le système est logé dans un boîtier entièrement redessiné avec un affichage à l'écran intégré pour faciliter le chargement et le retrait des échantillons. Pour la première fois, une modularité et une évolutivité complètes peuvent être proposées entre des configurations non corrigées et des configurations à correction unique avec des hauteurs variables, ce qui permet une flexibilité maximale pour différentes configurations de salles. Le Spectra 200 (S)TEM peut être alimenté par un nouveau canon à émission de champ froid (X-CFEG). Le X-CFEG a une luminosité extrêmement élevée (>>1,0 x 108 A/m2/Sr/V*), une faible dispersion d'énergie et peut fonctionner de 30 à 200 kV. Cela permet d'obtenir une imagerie STEM haute résolution avec des courants de sonde élevés pour une analyse STEM à haut débit et à acquisition rapide. Grâce à la puissante combinaison du X-CFEG et du correcteur d'aberration de la sonde S-CORR, il est possible d'obtenir couramment une imagerie STEM sub-angstrom avec un courant de sonde de plus de 1000 pA.