Microscope TEM Themis ETEM

pour le contrôle qualitépour l'analyse de matériauin-situ

TEM à résolution atomique pour l'analyse des matériaux avec un mode environnemental pour les études TEM in situ. L'observation in situ de la dynamique des structures à des échelles de longueur caractéristiques des nanostructures est extrêmement importante si votre objectif est la recherche à l'échelle atomique. Le Thermo Scientific Themis ETEM s'appuie sur le concept éprouvé du Titan Environmental Transmission Electron Microscope (ETEM) en combinant à la fois le TEM/STEM standard (TEM et microscopie électronique à transmission à balayage) et des capacités TEM environnementales dédiées pour des études in situ à résolution temporelle du comportement dynamique des nanomatériaux. Le Themis ETEM est conçu comme une plateforme entièrement intégrée pour les expériences in situ, telles que l'exposition de nanostructures à des environnements de réaction/exploitation gazeuse. Avantages du TEM environnemental Le nouveau Themis ETEM bénéficie désormais également des caractéristiques du Thermo Scientific Themis Z S/TEM : - Contrôle précis et connaissance de la température de l'échantillon dans tout environnement gazeux grâce à l'étage de chauffage NanoEx-i/v. - Amélioration de la stabilité de l'échantillon, de la navigation et de la correction assistée de la dérive de l'échantillon dans les axes x, y et z grâce à une platine piézoélectrique améliorée. - Fonctions avancées d'imagerie de haute qualité et d'acquisition de films, ainsi que de navigation de l'échantillon, en combinant vitesse, haute sensibilité et plage dynamique élevée avec un grand champ de vision dans une seule caméra Thermo Scientific Ceta 16M. - Manipulation et traitement de grands ensembles de données avec un système d'exploitation 64 bits. Automatisation et facilité d'utilisation Grâce à un contrôle logiciel complet de tous les paramètres opérationnels - pour les utilisateurs novices comme pour les opérateurs avancés. Imagerie sans fenêtre Grâce à un objectif innovant à pompage différentiel.