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Microscope FIB/SEM AMBER
pour analysepour la recherche en matériauxde haute précision

Microscope FIB/SEM - AMBER - Tescan GmbH - pour analyse / pour la recherche en matériaux / de haute précision
Microscope FIB/SEM - AMBER - Tescan GmbH - pour analyse / pour la recherche en matériaux / de haute précision
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Caractéristiques

Type
FIB/SEM
Applications
pour analyse, pour la recherche en matériaux
Autres caractéristiques
de haute précision, ultra haute résolution

Description

Le MEB-FIB nanoanalytique polyvalent pour étendre vos capacités de recherche sur les matériaux - Préparation de micro-échantillons de haute précision - Imagerie et nanoanalyse MEB sans champ à ultra-haute résolution - Un champ de vision étendu et une navigation facile - Automatisation des processus multi-sites - Tomographie FIB-SEM multimodale - Interface utilisateur du logiciel modulaire facile à utiliser - Des formules optionnelles attrayantes pour diverses applications

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Ceci est une traduction automatique  (voir l’original en anglais)

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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