Les débit de données élevés et l'échelle miniature de l'électronique haute vitesse nécessitent une intégrité élevée du signal et de l'alimentation (SI/PI), avec un faible risque d'interférence ou de bruit. À mesure que les débits de données augmentent, la fréquence du signal augmente et les signaux se propagent davantage comme une onde électromagnétique haute fréquence qu'un courant de circuit classique, ce qui entraîne des problèmes d'intégrité du signal. La compréhension du comportement de l'électronique à grande vitesse va au-delà de la simulation de circuit : elle nécessite une approche 3D pleine onde capable de modéliser totalement ces champs électromagnétiques pour aider à analyser la conception de cartes de circuit imprimé à hautes performances.
Utilisation d'un jumeau virtuel pour les tests SI/PI virtuels
L'approche via jumeau virtuel permet de reproduire des tests physiques dans l'environnement de simulation, aidant ainsi les ingénieurs en intégrité des signaux et de l'alimentation à obtenir des conceptions correctes du premier coup. Un jumeau virtuel est un modèle haute fidélité du système qui inclut toutes les données pertinentes dans un seul package. Les tests SI/PI courants tels que la chute ohmique, le diagramme en œil et les courbes en baignoire peuvent être répliqués virtuellement, tout comme les configurations de test de compatibilité électromagnétique (CEM) telles que la mesure des émissions et l'injection de courant (BCI).
Les jumeaux virtuels fiables nécessitent des modèles précis.