Microscope AFM Alphacen 300

industrielautomatisé

L'AFM à balayage de pointe pour les échantillons lourds et de grande taille jusqu'à 300 mm -Système de GFA standard - 300 mm x 300 mm étage d'échantillon - Idéal pour les échantillons jusqu'à 45 kg Nanosurf est le leader du marché des systèmes développés sur mesure pour les échantillons lourds et de grande taille. Au cours des dernières années, notre équipe a construit une base de connaissances importante en développant ces étapes sur mesure pour divers clients. En utilisant ce vaste ensemble de connaissances, nous avons maintenant développé un produit standard pour les grands échantillons jusqu'à 300 mm ou les échantillons lourds jusqu'à 45 kg. L'Alphacen 300 réduit le prix et le délai de livraison par rapport à un système sur mesure. Exécution de séries de mesures automatisées L'Alphacen 300 comprend un puissant logiciel d'automatisation qui permet à l'utilisateur de présélectionner les lieux d'intérêt, soit sur une image optique ou un plan de scène, et de laisser le système collecter les images sans aucune intervention de l'utilisateur. Échantillons de verre lourds La plupart des AFM à grand échantillon sont capables de manipuler des échantillons plans jusqu'à 200 mm, généralement destinés à l'analyse des plaquettes de semi-conducteurs. Toutefois, l'une des limites de ces systèmes est le poids de l'échantillon qu'ils peuvent supporter. L'Alphacen 300 répond au besoin d'un AFM standard capable d'imager de grands et lourds échantillons avec une limite de poids allant jusqu'à 45 kg. La course de 50 mm de l'étage Z permet également d'imager des échantillons qui ne sont pas de fines tranches de silicium. Les échantillons lourds et de grande taille sont assez courants dans l'industrie optique, par exemple dans la production de grandes lentilles et dans l'industrie des semi-conducteurs, par exemple les cassettes assemblées ou les produits finis.