Microscope à force atomique NaioAFM

de mesurepour mesure de rugosité de surfaceéducatif

L'AFM leader dans le domaine de la nano-éducation Compact et robuste Facile à utiliser Un bon rapport qualité-prix Le NaioAFM est le microscope à force atomique idéal pour la nanoéducation et la recherche fondamentale sur de petits échantillons. Ce système AFM tout-en-un offre de solides performances et une manipulation facile, avec un prix et une empreinte au sol qui s'adaptent à n'importe qui et n'importe où.