Système de mesure de biréfringence Exicor® PV-Si

infrarougedurci

Lors de la production de panneaux solaires en silicium, les tensions dans les cristaux de silicium restent souvent indétectées pendant une longue période du processus de fabrication. Hinds Instruments a développé un instrument de biréfringence sous contrainte pour mesurer les lingots de Si, qu'ils soient équarris ou bruts, avant qu'ils ne soient sciés en plaquettes. Lorsque cet instrument est utilisé comme outil de contrôle de la qualité, les lingots ou segments de Si de mauvaise qualité peuvent être identifiés avant que des coûts de traitement ultérieurs ne soient encourus. En outre, cet instrument fournit aux producteurs de cristaux de Si un outil leur permettant d'améliorer la qualité des lingots de Si afin de produire des plaquettes plus fines avec une faible perte de rendement mécanique. Le système de mesure de la biréfringence Exicor® 500 Si Ingot dans le proche infrarouge de Hinds Instruments est une extension de la plate-forme de travail de la famille de produits Exicor de mesure de la biréfringence. Ce système utilise des modulateurs photoélastiques symétriques de haute qualité, un laser de 1550 nm et un détecteur à photodiode à avalanche Ge pour permettre des mesures de biréfringence de haute précision pour les matériaux Si utilisés dans les industries du photovoltaïque et des semi-conducteurs. En plus du Si, des matériaux tels que le saphir, le carbure de silicium, le séléniure de zinc, le sulfure de cadmium peuvent également être mesurés avec ce système. Le modèle 500 Si Ingot est robuste et polyvalent, construit pour tenir et mesurer une longueur de 500 mm de lingot brut jusqu'à des diamètres de 8 pouces. La conception du système et le logiciel de balayage automatisé intuitif font de ce produit le meilleur choix pour l'amélioration des matériaux, les efforts de R&D et l'évaluation quotidienne des lingots de Si brut ainsi que d'autres matériaux de haute technologie. Caractéristiques : Sensibilité sans précédent dans la mesure de la biréfringence à bas niveau Mesure simultanée de la magnitude et de l'angle de la biréfringence Répétabilité de précision