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Résolution spatiale: 0,7, 1, 0,6 nm
... électronique à balayage de nanomatériaux avec une résolution inférieure au nanomètre et un contraste élevé entre les matériaux. Microscope électronique à balayage Verios 5 XHR Le MEB Verios 5 XHR offre une résolution subnanométrique ...
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Résolution spatiale: 0,02 µm
... Présentation du produit
Le
microscope à force atomique (AFM wafer-level) est un instrument de sonde à balayage haute résolution conçu pour caractériser la morphologie tridimensionnelle des surfaces et les propriétés multifonctionnelles ...
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