Spectromètres HELMUT FISCHER

Les instruments de mesure de la série XUL® sont la solution de choix pour déterminer rapidement et avec une grande précision les épaisseurs de revêtement dans la galvanoplastie ou la fabrication de produits électroniques. Les instruments ...

Appareil de mesure robuste et économe à fluorescence de rayons X pour l'analyse de matériaux et la mesure d'épaisseur de revêtements non intrusives.

Appareil de mesure à fluorescence de rayons X pour l'analyse rapide et non intrusive d'alliages or et argent

Appareil de mesure à fluorescence de rayons X pour la mesure manuelle ou automatisée d'épaisseur de revêtements fonctionnels, revêtements anti-corrosion et pièces de série.

Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® est un spectromètre X-Ray destiné à l'analyse quantitative des matériaux. La large gamme d'éléments décelables, de l'Aluminium à l'Uranium, fait du FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® un appareil ...

Appareil de mesure à fluorescence de rayons X, avec table X/Y programmable et axe Z, pour répondre aux exigences les plus poussées de la mesure automatisée de revêtements très fins et de l'analyse de traces

Appareil de mesure à fluorescence de rayons X avec système optique à rayons X polycapillaire pour la mesure et l'analyse automatisées d'épaisseurs de revêtements et de combinaisons de revêtements sur de petites pièces et structures

Le XAN®500 est l'appareil le plus polyvalent de la gamme FISCHER.Il peut être utilisé aussi bien en version portable, en poste fixe ou directement sur ligne. Equipé d'une tablette, le XAN®500 fonctionne avec le fameux logiciel WinFTM® ...

Système de mesure à fluorescence de rayons X pour la mesure et l'analyse en ligne continues de revêtements fins, comme CIGS, CIS ou CdTe, au cours du processus de production

Avec des axes entraînés par moteur (en option) et un sens de mesure de haut en bas, les instruments de mesure de la gamme XDL® permettent de réaliser des tests en série automatisés. Plusieurs versions, avec des sources de rayonnement ...

• Test de l'or non destructif, rapide et précis • Chambre de mesure spacieuse • Conception compacte et robuste, conçue pour une utilisation soutenue et à long terme • Aucune préparation d'échantillon n'est nécessaire. Placez simplement ...

... dérive au silicium (SDD) de haute qualité offre une meilleure résolution énergétique que le PIN diode au silicium. Les spectromètres XDAL ainsi équipés sont utilisés pour résoudre des tâches de mesure complexes dans l'industrie ...

• Analyse de bains galvaniques et mesure d'épaisseur de revêtement avec fluorescence X selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit point de mesure avec le XULM env. 0,1 mm ; plus petit point de mesure avec le XUL env. 0,5 mm • Tube ...

• Analyse de bains galvaniques et mesure d'épaisseur de revêtement avec fluorescence X selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit point de mesure avec le XULM env. 0,1 mm ; plus petit point de mesure avec le XUL env. 0,5 mm • Tube ...

• Spectromètres universels de fluorescence X pour l'analyse des métaux et des métaux précieux, la mesure de l'épaisseur de revêtement et le dépistage RoHS selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Détecteurs à semi-conducteurs ...

... Analyse, détermination de la valeur et vérification de l'authenticité. Robuste appareil de table XRF optimisé pour l'analyse la plus puissante, la plus rapide et la plus non destructive des bijoux, des pièces de monnaie et des métaux ...

... des matériaux sur des échantillons aux géométries complexes sont simples. Comme vous en avez l'habitude avec tous les spectromètres XRF de Fischer, le XDAL 600 est universellement applicable. Il dispose d'une ouverture ...

• Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit spot de mesure XDLM ...

• Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit spot de mesure XDLM ...

Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD est l'un des appareils à fluorescence X les plus performants du catalogue Fischer. Ce spectromètre XRF est équipé d'un détecteur de dérive au silicium (SDD) haute résolution et haute performance ...