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... appareils électroniques, jouets, bijoux, roches ou produits finis ? L'Epsilon 1 pour analyse de cartographie élémentaire, un spectromètre de fluorescence X compact avec une taille de point d'analyse de 0,8 x 1,2 mm, est la solution analytique ...
Longueur d'onde: 140 nm - 670 nm
... Des matériaux entrants aux tests en cours de fabrication, en passant par le contrôle final de la qualité des produits sortants, les usines de production et de fabrication de métaux exigent une analyse élémentaire avancée. Depuis plus de dix ans, un seul ...
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Skyray Instrument
... Analyse sur le terrain de la teneur en éléments dans le cadre de l' inspection des matières premières, du contrôle des processus et de l' inspection des produits finis ; détermination de la fiabilité des matériaux métalliques ...
Skyray Instrument
... Le spectromètre de fluorescence X EDX3000 PLUS est l'instrument le plus avancé pour l'analyse des métaux précieux. Le détecteur SDD (Silicon Drift Detector) de nouvelle génération d'Amptek, le détecteur à fenêtre en béryllium et la technologie ...
Skyray Instrument
Longueur d'onde: 760 nm - 1 150 nm
Longueur: 530 mm
Largeur: 495 mm
... sans réactifs. Utilisé pour l' inspection des grains entiers aux DIFFÉRENTS stades de la chaîne agricole, de la gestion des cultures, du commerce des grains au stockage et à la transformation des grains Utilisé pour l' inspection ...
Longueur d'onde: 145 nm - 410 nm
Longueur: 490 mm
Largeur: 420 mm
... Notre spectromètre portable compact : Parfait pour une analyse fiable des métaux directement sur site. Rapide, précis et facile à utiliser. Notre Belec Compact Port HLC est votre partenaire fiable pour l'analyse mobile des métaux. Grâce ...
Belec
Longueur d'onde: 120 nm - 430 nm
Longueur: 945 mm
Largeur: 680 mm
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Longueur d'onde: 170 nm - 420 nm
Longueur: 650 mm
Largeur: 610 mm
... Développé pour les analyses spectrales exigeantes, notre analyseur de métaux Belec IN-SPECT fournit des résultats précis en laboratoire et dans l'industrie. Belec IN-SPECT est notre solution stationnaire innovante pour l'analyse spectrale qui allie précision, ...
Belec
... • Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit spot de mesure XDLM : env. 0,1 mm ; ...
HELMUT FISCHER SRL
... Technologie spectroscopie Raman analysant et identifiant substances en
environ 3 secondes typiquement.
Module
inspection sécurité intégré détectant matériau sans différence.
Détection matériaux sombres et noirs ...
Longueur d'onde: 2 000 nm - 5 000 nm
Longueur: 30,6 cm
Largeur: 20 cm
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NLIR
Longueur: 270 mm
Largeur: 140 mm
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baltic scientific instruments
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Longueur d'onde: 785 nm
Longueur: 62 mm
Largeur: 52 mm
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Optosky(Xiamen)Photonics Inc.
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Longueur d'onde: 1 064 nm
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B&W TEK
... nombreux avantages et permet de manipuler facilement des applications que vous n'auriez jamais pensé possibles sur votre spectromètre d'étincelles. Tout cela avec moins de préparation d'échantillons, des temps de mesure plus courts, une ...
Longueur d'onde: 1 560, 780 nm
... d'empreintes digitales tandis que les instruments d'imagerie trouvent leur utilisation dans le contrôle qualité et l' inspection. TERA K15 Le spectromètre térahertz couplé à la fibre TERA K15 fournit une solution complète ...
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