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... dérive au silicium (SDD) de haute qualité offre une meilleure résolution énergétique que le PIN diode au silicium. Les spectromètres XDAL ainsi équipés sont utilisés pour résoudre des tâches de mesure complexes dans l'industrie ...
HELMUT FISCHER SRL
• Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit spot de mesure XDLM ...
HELMUT FISCHER SRL
• Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit spot de mesure XDLM ...
HELMUT FISCHER SRL
Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD est l'un des appareils à fluorescence X les plus performants du catalogue Fischer. Ce spectromètre XRF est équipé d'un détecteur de dérive au silicium (SDD) haute résolution et haute performance ...
HELMUT FISCHER SRL
Les wafers posent les plus hautes exigences à la technologie de mesure utilisée. Tout d'abord, les surfaces sont très sensibles. Deuxièmement, les structures sont si petites que seuls des appareils spéciaux peuvent les analyser. Grâce ...
HELMUT FISCHER SRL
... fabriquée en interne² avec la plus petite taille de spot de 10 µm (FWHM) Reconnaissance automatique de l'image pour une mesure fiable des petites structures Contrôle automatisé de la qualité des PCB ...
HELMUT FISCHER SRL
Appareil de mesure à fluorescence de rayons X pour la mesure manuelle ou automatisée d'épaisseur de revêtements fonctionnels, revêtements anti-corrosion et pièces de série.
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