Spectromètre à fluorescence X FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB
pour l'analyseprofessionnelpour mesure d'épaisseur

spectromètre à fluorescence X
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Caractéristiques

Type
à fluorescence X
Domaine
pour l'analyse, professionnel, pour mesure d'épaisseur
Autres caractéristiques
automatisé, numérique

Description

La série professionnelle pour les circuits imprimés. Fiable et entièrement automatique ! Les appareils XDV®-µ pour PCB sont la solution spécialisée pour mesurer les structures les plus petites ainsi que les revêtements très fins sur les PCB. Fischer DPP+ ¹ pour une précision maximale même avec des temps de mesure courts Optique polycapillaire fabriquée en interne² avec la plus petite taille de spot de 10 µm (FWHM) Reconnaissance automatique de l'image pour une mesure fiable des petites structures Contrôle automatisé de la qualité des PCB par XRF. Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB est un véritable spécialiste pour un contrôle de qualité fiable des circuits imprimés par fluorescence X. Grâce à un puissant détecteur de dérive au silicium, au tube microfoyer Ultra et à l'optique polycapillaire, l'instrument XRF mesure avec un point de mesure extrêmement petit à une intensité très élevée. Il est ainsi possible de déterminer de manière fiable les couches les plus fines. Les appareils répondent également aux exigences IPC 4552 et 4556 pour ENIG et ENEPIG ainsi que 4553A (argent) et 4554 (étain). Relever tous les défis. Des résultats fiables et rapides pour des tâches de mesure ambitieuses Entièrement automatisable. Laissez votre instrument travailler pour vous Experts en circuits imprimés. Solutions de mesure spécialisées pour les circuits imprimés, conformes aux normes IPC Optiques polycapillaires les plus avancées du marché. Nos optiques polycapillaires fabriquées en interne fournissent des résultats de mesure exceptionnels dans des temps de mesure courts Précision et exactitude. Positionnement du point de mesure sur de petites structures grâce à la reconnaissance automatique de l'image Mise en service. Extrêmement rapide et simple Processeur d'impulsions numérique DPP+. Temps de mesure plus courts ou amélioration de l'écart-type*

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3-07 juin 2024 Bilbao (Espagne) Hall 3 - Stand B-39

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