Système de mesure du moment magnétique DXV-9000

magnétiqueautomatisépour semi-conducteur

Présentation

La série DXV-9000 de magnétomètres à échantillon vibrant (VSM) est destinée aux mesures précises du moment magnétique, de l'hystérésis et des dépendances en température pour une grande variété d'échantillons. Le système intègre une tête vibrante électrique rotative continue à 360°, une acquisition de données rapide et des modules optionnels haute et basse température pour les tests de transition de Curie et supraconductivité.

Fonctions et caractéristiques

• Mesure des boucles d'hystérésis magnétique (M-H) pour déterminer la force coercitive, l'aimantation rémanente, l'aimantation de saturation et le moment magnétique.
• Mesure des courbes M-T avec option basse température pour la transition supraconductrice et option haute température pour la détermination du point de Curie.
• Tête vibrante à rotation électrique continue 360° pour les études d'anisotropie.
• Échantillon positionné au centre de la bobine de détection et du champ pour des mesures anisotropiques améliorées par rapport aux configurations à aimant supraconducteur.
• Réglage de l'entrefer des pôles électromagnétiques et système de levage électrique pour recentrage vertical automatisé, améliorant la répétabilité et la précision du centrage.
• Acquisition haute vitesse : échantillonnage continu jusqu'à 10 ms/point ; prise en charge de vitesses de variation de champ jusqu'à 5000 Oe/s et acquisition d'une courbe d'hystérésis en ~14 s ; compatible FORC.
• Contrôle de vibration en boucle fermée avec capteur de déplacement laser détectant des variations d'amplitude ~1 μm et stabilité d'amplitude à long terme (ex. 4 μm sur 24 h à 8 mm).
• Dispositif intégré de remplacement/alignement réduisant le risque de casse des tiges d'échantillon et assurant une vibration verticale sans collision ; tests de moment vectoriel pris en charge avec options de température.
• Conduit électrique breveté sur le pôle-échantillon pour l'application d'un champ électrique pendant la mesure et bobine de collecte intégrée avec sonde Gauss pour des connexions compactes et fiables.
• Remplacement d'échantillon à une main et test logiciel par une touche via IHM conviviale.
• Types d'échantillons applicables : diamagnétiques, paramagnétiques, ferromagnétiques, ferrimagnétiques, antiferromagnétiques et matériaux anisotropes ; matériaux d'enregistrement magnétiques particulaires et continus ; GMR, CMR, matériaux à échange-biais et spin-valve ; matériaux magnéto-optiques ; masses, poudres, films minces, monocristaux et liquides.

Configurations

• Électroaimant à entrefer variable (ex. DXSB-130 pour DXV-9005 ; DXSB-178 pour DXV-9007)
• Alimentation bipolaire pour électroaimant (ex. DXEP-7050 / DXEP-9060)
• Amplificateur lock-in pour l'acquisition
• Tête vibrante et support
• Tiges d'échantillon, porte-échantillons et fixations pour blocs, poudres, films et liquides
• Échantillon d'étalonnage (moment standard)
• Ordinateur avec logiciel système
• Refroidisseur pour électroaimant et alimentation (RG0309)
• Système haute température (RT-873K)
• Système basse température (~80 K–350 K) — variantes indiquées en développement sur certaines pages

Options de température

• Basse température : ~80 K à 370 K (environnement à azote gazeux en flux ; résolution ~0.001 K ; stabilité ±0.1 K).
• Haute température : ~350 K à 1050 K (argon statique ou équivalent ; résolution/accuracy variable selon option : typ. ±0.1 K à ±1 K).

Caractéristiques techniques

• Bruit de moment : ex. à température ambiante @3.5 mm : 0.1 s/pt (RMS) = 150 μemu, 0.1 s/pt (P-P) = 800 μemu ; 1 s/pt (RMS) = 80 μemu ; 10 s/pt (RMS) = 35 μemu. Plancher de bruit revendiqué ≈ 4×10⁻⁸ emu (10 s/pt).
• Plage de mesure : ~35×10⁻9 à 10³ emu.
• Stabilité : ±0.05% de la pleine échelle/jour après équilibre thermique (espacement de bobine fixe).
• Répétabilité : ±0.5% (tests de chargement/déchargement).
• Exactitude : ±1% (comparaison avec échantillon étalon NIST 772a).
• Masse maximale d'échantillon : 0–10 g (les masses plus importantes réduisent l'amplitude et le SNR).
• Intervalle/mode d'acquisition : 0.01–10 s (mode continu jusqu'à 10 ms) ; constante de temps lock-in 100 ms ; filtre passe-bas 24 dB/oct ; amplitude de vibration 2–8 mm ; fréquence 55–85 Hz.
• Champ magnétique : exemples DXV-9005/DXV-9007 — entrefers faibles donnant des pics de champ jusqu'à ~2.7–3.0 T selon entrefer et matériau des pôles (option Fe-Co légèrement supérieure).
• Précision du champ ~1% ; résolution du champ 1 mOe ; précision de levage 0.1 mm ; course de levage 0–300 mm.
• Rotation : 360° continue avec précision angulaire ~0.01° ; répétabilité ~100 mOe.
• Vitesse de variation du champ prise en charge jusqu'à 5000 Oe/s.
• Porte-échantillons/tiges pour blocs, poudres, films (in-plane/out-of-plane) et liquides ; ex. dimensions : bloc Φ4×10 mm ; films ex. 10×6.4 mm ; liquides Φ2.5×10 mm. Tiges hautes températures en quartz ; tiges basse température en fibre de carbone.
• Environnements température : basse température en azote en flux ; haute température en argon statique ou vide/isolations multicouches suivant configuration.