Le système Magnum V de Teradyne offre un débit élevé et une efficacité de test parallèle pour les tests de NAND Flash et de mémoires DRAM ultra-performants.
- Débit élevé et efficacité de test parallèle
- Conçu pour les tests de mémoire NAND Flash et DRAM ultra-performants
Caractéristiques clés:
- Prend en charge les dispositifs de mémoire NAND Flash et DRAM avancés
- Optimisé pour les environnements de fabrication à grand volume
- Architecture évolutive pour les technologies de mémoire futures
- Parallélisme élevé pour maximiser l'efficacité des cellules de test
- Couverture de test complète pour les produits mémoire de nouvelle génération
Applications:
- Test de mémoire NAND Flash
- Test de mémoire DRAM
Spécifications techniques:
- Système: Magnum V
- Types de test: NAND Flash, DRAM
- Débit élevé et parallélisme
- Évolutif pour les technologies de mémoire futures
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ELECTRONICA 2026
10-13 nov. 2026Munich (Allemagne)Hall A4 - Stand 431
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