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Système de test pour semiconducteurs Magnum V
automatique

Système de test pour semiconducteurs - Magnum V - Teradyne - automatique
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Caractéristiques

Applications
pour semiconducteurs
Autres caractéristiques
automatique

Description

Le système Magnum V de Teradyne offre un débit élevé et une efficacité de test parallèle pour les tests de NAND Flash et de mémoires DRAM ultra-performants. - Débit élevé et efficacité de test parallèle - Conçu pour les tests de mémoire NAND Flash et DRAM ultra-performants Caractéristiques clés: - Prend en charge les dispositifs de mémoire NAND Flash et DRAM avancés - Optimisé pour les environnements de fabrication à grand volume - Architecture évolutive pour les technologies de mémoire futures - Parallélisme élevé pour maximiser l'efficacité des cellules de test - Couverture de test complète pour les produits mémoire de nouvelle génération Applications: - Test de mémoire NAND Flash - Test de mémoire DRAM Spécifications techniques: - Système: Magnum V - Types de test: NAND Flash, DRAM - Débit élevé et parallélisme - Évolutif pour les technologies de mémoire futures

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.